借助时域反射技术检测集成电路的连通性

取样示波器采用顺序等效取样方法,拥有比实时取样的数字存储器高得多的等效带宽。Tektronix公司供应两种带宽50GHz和最高扫速10ps/格的取样示波器,同时配备有时域反射计功能,非常适合同轴系统的故障检测。随着光纤通信的广泛应用,增加电光—光电选件后,取样示波器便可构成光时域反射计。近年来由于光通信的带宽已超过10GHz,数字存储示波器的2GHz带宽不能满足要求,取样示波器又获得更多的应用。本文介绍的一种集成电路连通性故障检测方法,就是借助取样示波器来完成的。