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根据IEEE754/854标准,微处理器浮点单元的异常类型繁多,产生异常的原因和处理方式也比较复杂。因此浮点单元的设计中经常面临异常难以捕获的问题。本文提出一种高精度、高指令密集度开放式异常处理方法,保证了异常检测的完备性,减少了面积和功耗,加快了指令执行速度。  相似文献   
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