光纤数值孔径的远场法测量及仪表

光纤数值孔径的远场法测量是70年代后期才逐渐发展起来的一种快速而有效的测量方法。过去对多模光纤的这一项基本参数的测量大多采用光斑法,虽然方法简便,但测量精度和分辨力较差;也可采用折射近场法,先测量光纤折射率分布再计算数值孔径,但测量比较困难,一般只适用于实验室。远场测量法的优点是操作简便而精度和分辨力较高,因此日益受到各国的重视,已于1984年被列入CCITT建议,并予以推荐。在我国,首先由中国科学院上海硅酸盐研究所研制成功该项测量装置。随后,邮电通信工程仪表厂又在此成果的基础上研制成“GC-1光纤损耗远场测试仪”,使这一测量技术向仪表化实用化迈出了新的一步。