编织屏蔽同轴射频电缆的屏蔽效率

本文叙述按照电磁耦合机理试验研究编织蔽同轴电缆屏蔽的泄漏特性。用改进三同轴法(加计算机程序)在扩散作用可以略去不计的频率下,能间接测出屏蔽电缆的转移电感与几何转移比(L_T和GTR)。这两个量只与屏蔽结构有关,而与实验条件无关。它们代入相应方程后可表示屏蔽泄漏特性。端接三同轴法,用平衡-不平衡变换器端接。围绕试样端部安装铁氧体园环,使沿电缆外表面向平衡-不平衡盒子流动的电流变为最小。测定了电容耦合阻抗并在导出的完整的转移阻抗数学表达式中考虑了它的影响。四同轴法测出屏蔽效率(S、E)=Z_0logR_L-Z_T与编织物理参数(编织角、编织线尺寸、锭子数及编织密度)的关系,这对进行最佳屏蔽计具有重要的实际指导意义。     

绝缘材料相等老化过程法

本文介绍了相等老化过程(EAP)理论及方法。指出可以把试验温度下的老化过程的特征调到与使用温度下的相同。在大多数老化过程中,氧和水汽这些活性气体引起的反应起着最重要的作用。因此可以用改变活性气体浓度的办法,即改变试验大气的条件来调整老化过程的特征。其基本原理是使每个有关的反应都有相同的加速因子,而惯用热寿命试验方法对此是不可能的。对聚酯-酰亚胺电磁线、聚酯玻璃纤维层压板、杂环环氧树酯和聚乙内酰脲薄膜在不同浓度下试验的结果证明,EAP理论是正确的,方法是可靠的。     

聚乙烯发泡绝缘同轴电缆

本文叙述化学发泡绝缘的发泡机理,按此机理推导出挤出模套孔径的计算公式以及发泡绝缘的质量与挤出温度、气泡数、发泡率、螺杆与模子结构、聚乙烯、发泡剂、线芯预热温度等的关系,只要控制好上述设备、材料、工艺等因素就可得到优质的化学发泡绝缘。由于它的发泡率受限制(50％左右)化学发泡绝缘同轴电缆在高频下(800MHz)衰减变化较大等原因,又发展了物理发泡的新技术。物理发泡绝缘同轴电缆比化学发泡绝缘同轴电缆具有更多优点。但其所用设备较多、工艺比较复杂、投资较多。进一步研究改进后,是一种很有推广价值的新技术。