二次离子质谱中的钠信号

一、引言钠正离子和钾正离子在二次离子质谱图中是经常出现的两种元素谱峰。就这一现象,我们对各种样品施以不同的处理工艺后,通过大量的测试,确认它们如同俄歇电子谱检测中总有碳和氧的污染一样,是样品表面和体内的污染与杂质。钠和钾的污染要比碳和氧难去除得多,危险也很大,尤其在半导体工艺中更为突出。人     

复铝碳纤维界面性能的SAM分析

一、前言表面科学的发展对各行各业都有着巨大的促进,纤维行业也不例外。本文着重介绍利用扫描俄歇微探针(SAM)微区分析的特点对复铝碳纤维界面反应和界面状态的测试研究。碳纤维作为增强材料所具有的高强度、高模量、低比重的优点己被人们所认识,但     

俄歇电子谱仪筒镜分析器的设计

本文从我们的实际情况出发,介绍了CMA的设计,并讨论了分析器的聚焦特性,分辨率和几何参数的关系,给出了设计程序和主要参数。使用“环电阻”于陶瓷基体上对边缘场畸变作了修正,静电屏蔽消除了外界电磁场的影响。整个CMA与同轴电子枪采用无磁不锈钢Cr16Ni14Mn2制造。整个光学系统和电子倍增器使用μ值高的金属屏蔽。本文中还给出了CMA加工精度的要求。我们设计的CMA已用于AES中,其分辨率为0.3％,信噪比(对银351峰)为430:1。     

碳纤维碳化特征的SAM微观分析

本文应用SAM方法检测了由不同工艺条件造成的碳纤维的污染和产生的缺陷。对任意一根碳纤维,其表面和内部的碳俄歇峰、峰高和峰形都有差异,这一差异导致碳沿径向分布不均匀,并影响到碳纤维的力学性能。采用SAM的方法可监测予氧化和碳化过程中的工艺参数以便提高碳纤维的质量。      

用SAM检测碳纤维微观元素分布

现代化的表面分析技术在某些领域的应用已得到了很好的效果。在我们的复合材料测试中,只要解决好样品制备、表面清洁及电荷累积的消除诸问题,就使测试成为可能。本文介绍了四种不同工艺生产高强度碳纤维的SAM微区分析的检测结果。由于不同的预氧化碳工艺所得的碳纤维的碳化曲线的均匀度是不大相同的,对照抗拉强度的图表来看碳化均匀性好的碳纤维其抗拉强度也大,沿径向碳的分布是起伏不一,并不象人们所想的是锅底形状的。我们认为碳在径向分布与碳纤维的力学性能有关,测试结果也证实了这一点。从SAM微区分析检测结果来看,对单根碳纤维,我们检测了它的组分和元素分布,提供了一些其它分析手段得不到的新的信息。这种方法使测试复合材料和碳纤维又多了一种先进的可靠的特殊的分析手段和工具。如果能进一步深入研究,必将揭示碳纤维碳化过程的微观性能和宏观的物理、力学机械性能的内在联系。