珍珠与珍珠贝的透射电子显微镜研究

前人用化学、光学和x射线衍射等方法研究了珍珠、珍珠贝的成分和结构,本工作在此基础上,主要依靠透射电子显微术的选区电子衍射、电子衍衬象与形貌象、高分辨晶格象、微区x射线能谱分析等手段,并辅之以光学显微与光学衍射方法,研究了珍珠和珍珠贝的内部结构、珍珠中晶体的微观结构特点以及在微米尺度上晶粒间的相互关系。结果如下:     

安康矿无公度调制结构的研究

安康矿是近年在我国陕西安康发现的一种新矿物,其化学式为Ba_(0.827)(Ti_(5.827)V_(2.294)Cr_(0.053)_(8.174)O_(16)。X射线衍射测定其平均结构属四方晶系,a=10.118A,c=2.956A,空间群为I_4,并发现有沿c方向的一维无公度调制衍射。安康矿晶体结构属柱红石类型,与锰钡矿相类似,而锰钡矿中无公度调制结构的形成通常认为是由Ba原子填充在四方通道所引起的。图1a,b,c是沿安康矿[001]、[100]和[110]带轴的电子衍射图。由此可知安康矿沿c轴方向存在无公度调制结构,其调制波波矢(?)=(?)/2.27。     

透射电子显微镜

1TEM的工作原理 透射电子显微镜(TEM)是一种现代综合性大型分析仪器,在现代科学、技术的研究、开发工作中被广泛地使用.     

锑硅纳米复合薄膜作为钠离子电池负极材料的电化学行为研究

近年来, 合金作为钠离子电池的负极材料具有较高的比容量而受到广泛关注。然而, 硅与钠离子的电化学反应活性很低, 硅基合金型负极材料鲜有报道。本研究通过脉冲激光沉积技术制备了锑硅(Sb-Si)纳米复合薄膜, 并对其作为钠离子电池负极材料的电化学性能和反应机理进行了研究。电化学性能表征发现, 锑硅纳米复合薄膜在10 μA/cm²的电流密度下, 循环100次后能保持约0.011 mAh/cm²(270 mAh/g)的可逆比容量, 远优于同样方法和条件下制备的单质锑和单质硅薄膜电极的电化学性能。进一步的研究表明, 在放电过程中, Sb和Si分别和钠离子发生合金化反应生成了Na₃Sb和NaSi的纳米晶。在充电过程中, Na₃Sb和NaSi纳米晶发生可逆的脱钠反应, 重新形成单质Sb和Si纳米晶粒。大量存在于锑硅纳米复合薄膜中的异质晶界有利于钠离子的扩散和输运, 从而提高了纳米复合薄膜电极的电化学性能。     

Cu/Ta/SiO_2/Si多层结构的纳米压痕研究

利用磁控溅射方法在Si衬底上沉积钽层以及铜层,并利用纳米压痕技术对Cu/Ta/SiO_2/Si多层膜结构进行了硬度和弹性模量的表征,研究发现多层膜结构的硬度随着薄膜厚度的增加而降低,然而弹性模量与膜厚之间并没有这样的关系。利用聚焦离子束（FIB）工艺将纳米压痕区域剖开,并通过透射电子显微镜（TEM）表征发现在纳米压痕过后,钽以及二氧化硅界面有了明显的分层现象,这一点表明层与层之间较弱的键合在相对大的负荷下遭到了破坏。     

用于HREM分析的位错结构模型

本文推荐建立一种用于高分辨电子显微术（HREM）分析的位错结构模型，希望对该问题的解决有所帮助。     

Nanoindentation study of a Cu/Ta/SiO_2/Si multilayer system

正Tantalum and copper layers were deposited on a thermally oxidized Si substrate in a magnetron sputtering process.Nanoindentation was adopted to investigate the hardness and elastic modulus of the Cu/Ta/SiO_2/Si multilayer system.The hardness shows an apparent dependence on the film thickness,and decreases with the increase of film thickness,whereas the elastic modulus does not.To reveal the structural change,a trench through the center of a residual indent was cut by a focused ion beam,and then examined using an ion-microscope.TEM analysis showed that delamination occurs at the interface between the Ta and the SiO_2 layer of the residual indent, suggesting that the destruction under a relatively large load is due to weak bonding.     

Cu/Ta/SiO2/Si多层膜纳米压痕下微观结构的研究

Cu/Ta/SiO2/Si多层膜结构是目前集成电路制造工艺中的常见结构,其硬度与弹性模量通过纳米压入技术测得.为了表征纳米压痕下的形变微观区域,采用聚焦离子束加工出压痕截面,同时进行扫描电子、扫描离子显微观察,发现样品衬底发生开裂,多层膜结构出现分层现象.TEM分析表明分层出现在Ta/SiO2界面,说明这是该结构的一个薄弱环节.     

H8/AHI卫星数据的夜间陆地雾自动检测

夜间雾已成为交通事故频发的重要隐患,夜间雾检测对防治和减少因雾造成的事故和损失,保障人民生命财产安全具有重要的意义。雾与晴空地表夜间亮温差存在明显差异,二者在亮温差影像上有清晰边缘的特征,算法通过Canny边缘检测获取该边缘混合像元,根据边缘混合像元亮温差均值自动获取二者分离检测阈值,进行夜间陆地雾检测。5天H8/AHI夜间雾算法检测结果平均正确率为93.3%、误警率为29.8%,可靠性因子为67.8%,结果表明算法较适合大面积浓雾检测,但对地表存在的特殊天气如霾、雨雪天、雾发展为低云等情况易虚假报警,如未有相关伴随雾的天气现象出现,检测结果正确率为94.6%、误警率为0.05%、可靠性因子为90.1%。算法优点为可自动确定雾与晴空地表的分离检测阈值,与已有夜间雾自动检测算法相比,该算法检测精度有较大提高。2015年11月27日至12月1日17:00～07:00不同时刻夜间雾时序检测定性验证结果证明,算法适合晨昏时刻遥感影像中已处于夜晚区域的雾检测,可检测出90%左右的雾区;对整幅影像均处于夜间的遥感影像,算法检测结果正确率高达90%以上,定性验证结果进一步证明了算法的稳定性和可靠性。     

现代大型分析测试仪器系列讲座之二 透射电子显微镜

1　ＴＥＭ的工作原理图 1　ＴＥＭ示意图①灯丝 ;②栅极 ;③阳极 ;④枪倾斜 ;⑤枪平移 ;⑥一级聚光镜 ;⑦二级聚光镜 ;⑧聚光镜光栏 ;⑨光倾斜 ;⑩光平移 ; 试样台 ; 物镜 ; 物镜光栏 ; 选区光栏 ; 中间镜 ; 投影镜 ; 荧光屏。透射电子显微镜 (ＴＥＭ )是一种现代综合性大型分析仪器 ,在现代科学、技术的研究、开发工作中被广泛地使用。顾名思义 ,所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲 ,形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象 ,所以我们就可以利用这一物理效应制造出…