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目的 获得一种可改善单晶SiC晶圆化学机械抛光(CMP)效率的复合增效技术,实现单晶SiC晶圆高效率和低成本的加工要求,并对其增效机理进行深入研究。方法 通过抛光实验和原子力显微镜测试,探究长余辉发光粒子(LPPs)与不同光催化剂的协同作用对SiC–CMP的材料去除速率和表面粗糙度的影响。结合扫描电子显微镜(SEM)、紫外–可见漫反射光谱仪(UV–vis)、光致发光光谱仪(PL)和X射线光电子能谱仪(XPS)等仪器的测试结果,研究LPPs与光催化剂的协同增效机理。结果 与传统CMP的条件相比,在光催化条件下采用LPPs(质量分数0.5%)+TiO2(质量分数0.5%)+ H2O2(质量分数1.5%)+Al2O3(质量分数2%)的抛光液时,SiC的材料去除速率(MRR)由294 nm/h提高到605 nm/h,同时获得的晶圆表面粗糙度(Ra)为0.477 nm。然而,采用含有LPPs和ZrO2的抛光液抛光SiC时,其材料去除速率和表面粗糙度都未得到明显改善。XPS测试结果表明,LPPs与光催化剂的协同作用增强了抛光液对SiC的氧化作用。UV–vis和PL测试结果显示,LPPs与不同光催化剂协同效果的差异主要与其光学性能有关。结论 在光催化条件下,LPPs和TiO2对单晶SiC–CMP具有协同增效的作用,然而LPPs和ZrO2没有展现出协同增效的作用,即LPPs与光催化剂的协同作用可以改善SiC–CMP的性能,但是光催化剂的选择需要考虑LPPs的发光特性。  相似文献   
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