基于STM32+FPGA的多轴运动控制器的设计

运动控制器是数控机床、高端机器人等自动化设备控制系统的核心.为保证控制器的实用性、实时性和稳定性,提出一种以STM32为主控制器、FPGA为辅助控制器的多轴运动控制器设计方案.给出了运动控制器的硬件电路设计,将S形加减速算法融入运动控制器,提高了控制精度,可有效避免过冲、振荡等现象的发生.在三维点胶机平台上对运动控制器...     

COTS元器件在舰载装备中的可靠性风险分析

通过介绍COTS元器件在舰载装备中的典型应用,并对舰船所处的特殊环境进行分析．指出COTS元器件用于舰载电子装备系统中可能存在的主要风险,以及COTS技术的发展趋势和应用前景。     

钽酸锶铋陶瓷的锆钛酸铅纳米粉掺杂改性研究

采用两步固相反应法,制备锆钛酸铅(PZT)纳米粉掺杂的钽酸锶铋(SrBi2Ta2O9,简写为SBT)陶瓷。研究了显微结构和电性能,并与未掺杂的SBT陶瓷进行比较。经测试分析表明:PZT纳米粉掺杂后的SBT陶瓷具有高度的c轴取向,其铁电与介电性能表现出明显的各向异性,其极化强度2Pr可达 21.6?06 C / cm2,矫顽场强Ec为 60.3?03 V / cm。     

无铅对电子产品可靠性的影响

主要阐述了无铅对电子产品可靠性的影响,进一步介绍了当前主流的、推荐的无铅替代合金材料以及无铅工艺的标准化工作现状。     

国内外电子元器件质量等级体系研究

质量等级是电子元器件设计选择、采购验收、筛选和检验的重要依据,是影响元器件使用可靠性的重要因素之一。全面、深入地剖析了国内外电子元器件生产保证与可靠性预计的两种质量等级体系,给出了国内外详细的质量等级标识及对应关系．并对当今使用中存在的常见误区进行了更正说明。     

无铅电子元器件的锡须风险评估与对策分析

针对无铅器件的锡须问题,重点分析锡须的形成机理、诱发因素以及使用风险,探讨抑制锡须生长的有效措施和风险规避对策,为无铅电子元器件在军工、航空航天领域的高可靠使用提供借鉴依据和指导。     

基于马尔可夫过程的UPS可靠性指标的计算

不间断电源(UPS)是在电网异常的情况下不间断地为电器负载设备提供后备交流电源,以维持电器正常运作的设备,目前其已在诸多领域中得到了广泛的应用.因此,基于六性协同工作平台的马尔可夫过程模块对某UPS系统的可靠性指标进行了认证和分析.首先,简单地介绍了UPS系统及其可靠性建模方法;其次,概述了可维修系统的马尔可夫过程求解;然后,阐述了六性协同工作平台和马尔可夫过程模块;最后,对利用六性协同工作平台的马尔可夫过程模块计算UPS系统可靠性指标的具体过程进行了详细的介绍,对于快速地求解UPS系统的可靠性水平具有重要的意义.     

塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定

主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.