真的需要在额定速率（真速）下测试吗？

来自大多数自动测试设备和集成电路制造厂的回答是肯定的!虽然一些制造厂商认为可以以较低速度正确地测试器件,但大多数厂商认为要保证集成电路的质量就必须在最高的时钟速度时进行测试。集成电路一直在变得愈来愈快,起初的PC机只有1兆赫兹或2兆赫兹的时钟速度。现在,顶极PC机可以在66兆赫兹下工作。明天,工作站可能有超过100兆赫兹的时钟频率。集成电路用户不但要求更高的性能,还要求更高的芯片质量。十五年前,厂商对于     

分析VLSI自动测试设备高频测试性能的准则

更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。     

汽车设计面临测量的挑战

新测试设备可地协助汽车技术人员测试和诊断复杂的汽车电子电路。电子机械系统、子系统和零件复杂性的增加向汽车维修技术人员提出严重的挑战。因为今日的汽车的电子部分与机械部分一样复杂,这要求技术人员必须能够快速准确地进行故障寻迹与排除,识别出并解决电子电路问题。要帮助这些技术人员解决困难的电子和电子机械问题,就必须给他们更灵巧的测试设备。     

快速而准确地测量误码率

一般要用相当长的时间积累足够的误码才能准确地评估数字通讯系统的状况。本文介绍一种缩短等待时间的方法。     

汽车电子印制板的测试

应当放弃把电子公司看成是尖端技术的先驱者的固有想法,要说到在汽车上装备自动电子系统,汽车制造商与它们的零部件供应商表现的相当保守。汽车电子部件供应商在制造样机前先对设计进行模拟,然后,在真实的样机中进行广泛的实测。     

TGEN：灵活的定时产生器体系结构

本文描述一种称为TGEN的器件,它是为下一代超大规模集成电路自动测试仪使用设计的集成电路。它使用一种新的定时体系结构,旨在与中央产生的周期定时信息脱钩。