适用于纳米工艺的SET/SEU加固触发器设计

针对触发器在纳米级工艺下容易受空间辐射中单粒子效应的影响而产生软错误的情况,基于CPSH触发器结构,研究了一种对单粒子效应中SET/SEU加固的延时采样软错误防护(DSSEP)触发器结构.该触发器由延时采样单元、输入传输单元、软错误鲁棒存储锁存器和反相输出单元组成.延时采样单元对来自其他逻辑电路的输出数据进行采样,采样数据经输入传输单元写入软错误鲁棒存储锁存器,并通过一个反相输出单元输出.仿真结果表明,DSSEP触发器具有很好的SET/SEU加固能力.经过比较和分析,证明DSSEP触发器与具有同样SET/SEU加固能力的保护门触发器(GGFF)相比,在晶体管数目和传播延时方面仅为GGFF的62％和33％.     

蓝牙微微网对WLAN网络同频干扰的建模

由于同在2.4 GHz的ISM频段下工作,IEEE 802.11b局域网和蓝牙微微网不可避免地产生相互干扰,严重影响各自的网络性能。通过对基于CSMA/CA和RTS/CTS机制的IEEE 802.11b协议进行数学分析,剖析了其吞吐量降低与发送不同蓝牙数据包之间的内在关系,建立了一个蓝牙微微网对IEEE 802.11b局域网干扰影响的数学模型。仿真结果表明：该模型能较好地逼近IEEE 802.11b局域网在蓝牙微微网干扰下的吞吐量仿真曲线,在蓝牙DH1、DH3、DH5数据包干扰的情况下,平均相对误差分别为17.86%、10.39%和6.64%。根据该数学模型,提出了一个降低蓝牙微微网干扰的有效方案。该方案能快速、低成本、自适应地调整IEEE 802.11b发送帧长,有效提高其在蓝牙微微网干扰下的吞吐量。     

纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门

在纳米级工艺条件下,高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题.本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门,此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构,对于动态门的输出端实施P-type扩散区隔离以完成SEU的防护.通过Spectre电路仿真,验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错；另外,与传统XC Domino动态门容错设计方案相比,免疫型动态门能够降低13.64％的门延时,并能在减少47.37％面积开销的同时降低75.54％功耗开销.