打点器的调试和维护

针对打点器使用中的问题，介绍其工作原理及如何正确调试与维护。     

低温测试仪

<正> 半导体器件及IC的高、低温测试,是器件生产中很重要的一环。尤其是LSI的高档产品更是不可缺少。此外,对于测试IC新品、失效分析、可靠性试验以及某些电子材料的性能等,都有广泛的用途。 国外生产的探针测试设备,除可进行常温测试外,一般都附带有高、低温测试附件。根据需要,可对器件进行-60℃～300℃左右的高、低温测试。而目前国产的各种型号探针测试台,均无此功能。因此给需要开展高、低温测试工作的用户带来不便。某些本应进行高、低温测试的器件,有的不得不放弃此项试验,有的只能采用精度及可靠性强度均较低的模拟法摸拟测试。例如采取对器件加高、低电压的方法,模拟量由经验而定。     

探针卡片参数的选择、维护及发展

<正> 众所周知,半导体集成电路制造过程中的初测(即以前所称的“中间测试”),芯片是通过探针与测试系统连接传递信号。测试质量取决测试点(电极)的接触状态。而此点在很大程度上是由探针的内在质量来保证的。探针卡片的内在质量主要包括:探针材料的机械性能及电气性能;探针的结构尺寸;针尖共面度;针间电容;线迹电容;线迹电阻;针尖接触电阻等内容。如何正确选择这些参数,以保证探卡具有优良可靠的使用性能,是设计制作探卡时必须首先考虑的问题。本文拟就探卡参数对测试的影响及选取原则,使用中的维护以及探卡的最新发展三个方面作一些探讨和介绍。     

TZ-5型电路测试探针的主要改进

<正> 集成电路向大规模、超大规模化发展,晶片尺寸越来越大,每个单元电路的铝引线数量越来越多,电极位置也日趋密集,为电路制造工艺中间测试提出了更加严格的要求。为了适应我国集成电路中测工艺发展的需要,最近,我所对 TZ—3A 型电路测试探针(即自动     

日本海沟内的俯冲和加积

迄今,在弧前区辨认出的基本地貌单元有:火山链、基底高地、俯冲复杂体和海沟。基底高地的背后或前沿可能存在沉积盆地。这些地貌构造无论就其发育方式还是所处部位都是变化多端的。东北日本边缘的地貌和构造反映了渐新世晚期以来俯冲作用的累积效应。日本海沟弧前区(东北弧前区)的晚白垩世基底之上覆盖着厚达几公里的新生代晚期沉积。弧前区内诸如盆地、断层、沟轴的走向,以及海沟外坡地垒和地堑等构造特征揭示出了一种块状构造,其每个单元的宽度是有限的。弧前区主要受向着岛弧并向岛弧下俯冲的运动所导致的水平挤压应力所控制。然而,弧前区的地表特征又表明有局部的水平引张力。俯冲复杂体主要受逆断层控制,这些逆断层也切割着复杂体下的下冲大洋基底,这表明不存在使俯冲复杂体消亡到大陆板块之下的俯冲带更深部位的方式。     

自动探针台的现状及发展

<正> 国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台的精度(定位精度、重复精度及位置分辩率)、运行速度、使用功能、探测能力、软件接口、工作可靠     

TZ—107型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示

ＴＺ—１０７型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示电子工业部第４５研究所唐德兴概述自动探针测试台是我所的一项主导产品。在国内有较大的市场覆盖面。ＴＺ—１０７型自动探针测试台是近年研制的新产品。设计时课题组对国内、外探针台的结构特点进行了较深入地剖析...     

特提斯块体间的相互作用及亚洲褶皱带的演变

特提斯洋的两个部分——北部的古特提斯和南部的新特提斯是十分不同的。前者的关闭与后者在晚古生代—早中生代的张开是一致的,或者前者的关闭就是导致后者张开的原因。由于中国和印度这些大型板块的裂开而形成的陆块彼此作用,并与大型克拉通块体相互作用,从而造成了亚洲和东南亚褶皱带。中部伊朗、西藏和掸邦—西马来都是隶属于大冈瓦纳的印度—阿拉伯板块的一部分,它们裂离而形成了新特提斯。这些块体,加上古特提斯的其它块体,减小了特提斯洋的宽度,使之比原来设想的为窄。亚洲的一些造山幕与俯冲带及碰撞带的不断向南南西迁移有关。所形成的褶皱带,除喜马拉雅十分独特,系受到改造的微大陆外,其它褶皱带,从东南亚到中西亚在地质和构造发育方面皆可相比较。     

TZ—107自动探针测试台

本文介绍了TZ—107自动探针测试台的主要技术性能及结构。并对工作台速度问题进行了讨论。