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随着闪存(Flash)应用日益广泛,对其失效模式的分析也成为一个重要挑战.本文主要介绍了Flash的基本操作,包括编程、擦除、读操作,并对Flash工作原理作了说明.此外,本文研究了Flash的几种典型常见的失效模式,如擦除中出现的失效、列漏电失效和干扰失效,通过失效原理、失效测试、失效影响等方面对这几种失效模式作了简要分析,其分析方法对Flash的测试有一定的实用价值. 相似文献
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