排序方式: 共有27条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
3.
4.
5.
1553B芯片测试系统由上位机和下位机两部分构成,下位机是用两片DSP芯片作为控制芯片构建两个1553B总线的终端,上位机在计算机上用LabVIEW平台控制一块1553B的总线板卡,并且通过串口发送各种测试命令给下位机,共同完成对DDC公司的BU-61580系列芯片的内部功能、总线协议功能及电气特性测试,对被测芯片处于BC、RT、MT三种不同类型终端时的各种功能与时序进行直观显示;测试环境与芯片在实际运用中效果一样,可以对芯片进行筛选,成本低;通过在某单位实际应用表明,该测试系统具有测试简单、功能全面、性能稳定的特点,系统还可自检,满足了用户的要求。 相似文献
6.
7.
提出了一种基于FPGA的数字超声探伤仪解决方案.该方案利用超声回波信号可重复性的特点,采用50Msps模数转换系统,通过调整超声脉冲的触发时间完成等效采样变换,实现了200 Msps的高速数据采集;在超声脉冲的触发时间控制中,采用200 MHz的基准时钟,以整周期方式调整触发时间,保证了触发时间的高精度.为补偿超声波信号在大声程中的传输衰减,采用AD603实现了时变增益放大器,该放大器根据数据采集的进程实时调整放大器的增益,可较好地兼顾仪器的浅层目标识别和深层缺陷探测. 相似文献
8.
9.
将可编程计数器和高精度延时器MC100EP196相结合,实现了延时器的大范围、高精度调节.在EPIC6Q240内将可编程计数器和MC100EP196控制电路制作成SOPC组件,通过Avalon总线与NIOS Ⅱ连接,实现了可编程延时器的扫描控制.通过该设计驱动的采样电路测试结果,说明了电路的可行性. 相似文献
10.