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SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化 总被引:2,自引:0,他引:2
针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC Wrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减少单个IP核的测试时间;在此基础上进行TAM结构的蚁群优化,通过算法迭代逼近测试总线的最优划分,从而缩短SoC测试时间.对ITC2002基准SoC电路进行实验的结果表明,该方法能有效地解决SoC测试优化问题. 相似文献
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在相变存储器器件设计中,为预测不同器件结构的性能优化器件结构设计,建立相应的数值模型进行数值模拟是一项非常重要的工作。在我们的工作中,提出了一个包含泊松方程,电流连续性方程,热传导方程以及相变动力学模型的耦合系统,进行相变存储器数值模拟,与常用的相变存储器数值模拟相比,使用了泊松方程以及电学连续性方程代替拉普拉斯方程来对相变存储器的电学特性进行建模,由于组成相变存储器的相变材料,本质上是一种半导体,因此,利用上述基于半导体理论的数值模型,能更精确的反应相变存储器的电学特性。结果表明,该模拟方法能够进行相变存储器的模拟,并与测试数据吻合较好。最后,利用上述数值模拟,对不同电极尺寸的相变存储单元的性能进行预测,从而得到影响相变存储单元性能的关键设计参数以及相应的设计策略。 相似文献
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在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险. 相似文献
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应用于硬件安全领域的多态电路对于除金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)外的新器件的研究较少,往往只有少数几个设计实例,缺乏一般化的研究方法和多态门设计平台。面向铁电场效应晶体管(FeFET)器件,该文提出一种多态门设计方法。该方法利用免疫算法,将基于FeFET的多态门电路生成问题归结为生物代际演化过程。该文利用C++语言平台和Hspice仿真工具实现了完整的FeFET多态门设计算法,结合具体的工艺和电路模型搭建了多态门的设计平台。实验结果表明,该设计方法可有效地生成出基于FeFET的多态电路,其所生成的多态门电路可实现温度、电源电压和外部信号多种控制方式。 相似文献
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差分功耗分析(DPA)攻击不仅威胁加密硬件,对加密软件的安全性也构成严重挑战。将波动动态差分逻辑(WDDL)技术应用在RISC-V指令集的处理器芯核上可减少功耗信息的泄露。但是,WDDL技术会给电路引入巨大的功耗开销。该文针对基于WDDL的RISC-V处理器芯核提出两种功耗抑制方法。虽然随机预充电使能技术与指令无关,而预充电使能指令技术需要扩充指令集,但这两种方法都是属于轻量级的设计改进。仿真结果表明,采用了随机预充电使能技术和预充电使能指令技术的Rocket 芯核的电路功耗分别是原始的WDDL Rocekt 芯核功耗的42%和36.4%。 相似文献
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针对典型的第三方测试和内部测试情形进行建模,重点分析测试过程中参与方的合作关系问题.通过混合策略的贝叶斯纳什均衡给出第三方测试过程适用条件,采用沙普利值对参与方合作可能性进行探讨.根据内部测试与第三方测试过程的内在差别,利用重复博弈方法对其进行分析,提出了软件测试过程博弈分析的基本研究过程框架. 相似文献
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可编程控制器的梯形图语言与语句表语言的互换算法 总被引:16,自引:0,他引:16
当代可编程控制器对多种语言的编程支持使可编程控制器为广大工程的技术人员和操作人员所广泛使用。而众多的编程语言中,梯形图语言和语句表语言最为受欢迎。文章介绍了梯形图语言与语句表语言之间的互换算法。并以OMRON C系列可编程控制器为例做以说明。 相似文献
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在相变存储器的外围电路设计中,相变存储单元的电路模型是连接器件与电路的桥梁。在本文中,提出了一种基于解析电导率模型的相变存储器电路模型,与前面的工作相比,该模型利用解析电导率模型代替了使用传统模型中需要利用测试结果建模的缺点,可以通过材料的参数计算相变存储单元的电阻,能够反映相变材料中的载流子传输特性。同时,基于等温假设,提出了解析温度模型,并基于JMA方程建立的相变动力学模型,结果表明,该模型能够进行相变存储单元瞬态与稳态电路仿真,并与测试结果符合较好。 相似文献
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为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR, Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Selective Huffman, CDCR编码相比,PTIDR编码能够得到较高的压缩率面积开销比.特别地,在差分测试集中0的概率满足p≥0.7610时,PTIDR编码能取得比FDR编码更高的压缩率,从而降低芯片测试成本. 相似文献