浅谈对集成电路加速寿命试验的认识

老炼、稳态寿命等加速寿命试验是衡量集成电路使用寿命的主要手段。文中简要介绍了集成电路的主要可靠性指标——FIT,呈现集成电路失效特征的"浴盆曲线",以及不同失效阶段的主要影响因素、失效率与时间相关的统计分布特征。在此基础上,文章对老炼和稳态寿命的试验目的进行了说明,并列出稳态寿命试验的等效试验条件表以及通过该试验的集成电路使用寿命的一些参考数据。     

军用单片集成电路QML质量保证体系研究

军用单片集成电路的质量保证体系经历了由QPL体系向QML体系转变的过程。文章介绍了两种质量保证体系的发展过程和特点，并着重阐述了QML体系的优势以及具体实施途径。QML体系对集成电路的制造（包括从设计到最终检验）全过程中质量控制相关要求进行了详细阐述，尤其是在线工艺监控（PM）和可靠性测试结构（TCV）的关键点，旨在表...