基于掩模图像的磁环表面缺陷提取研究

磁环表面缺陷图像具有对比度低、纹理背景复杂 、缺陷种类多和亮度不均匀等特点,提出了一种 基于掩模图像的磁环表面缺陷提取方法。首先,通过分析磁环表面图像中不同缺陷区域与正 常区域的灰度 差别,将磁环表面缺陷划分为两类,第1类为缺陷灰度值与正常区域差别大易分割,第2类为 缺陷灰度 值与正常区域灰度值差别小不易分割;其次,根据两类表面缺陷的成像特点以及与背景的 关系,利用掩 模技术分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型及大小等方 面,利用开发 的样机进行了大量的在线实验。实验结果表明,本文缺陷提取算法稳定性好,鲁棒性强,能 够准确、快速 地提取出磁环表面图像各区域的缺陷,表面缺陷检测的准确率为95.3%。     

基于纹理抑制的磁环表面缺陷检测方法研究

针对磁环表面缺陷图像具有对比度低、纹理背景复 杂、缺陷种类多和亮度不均匀等问题,提出了一种基于改进自适应Canny算法和掩模技术的 磁环表面缺陷提取方法。首先,在分析磁环表面图像中不同 区域灰度特征和梯度特征的基础上,通过拟合磁环内外轮廓构造掩模图像,以便屏蔽磁环背 景区域的干扰; 然后,利用提出的基于8邻域各向异性滤波的改进自适应Canny边缘检测算法,抑制磁环表面 纹理的干扰;最后, 利用图像数字形态学增强边缘连通域,并利用构造的掩模图像提取磁环表面缺陷。利用开发 的样机 进行了大量的在线实验。实验结果表明,本文缺陷提取算法稳定性好,鲁棒性强,能够准确 、快速地提取 出磁环表面图像各区域的缺陷,表面缺陷检测的准确率为97.3%。     

基于亮度统计的无参考图像质量评价

基于亮度均值减损对比归一化(MSCN) 系数统计特性及其8方 向邻域系数间的相关性,提出了一种通用无参考图像质量评价方法.首先,分别利用非 对称广义高斯分布(AGGD)模型拟合MSCN系数及其8方 向邻域系数,并估计 相应AGGD 模型参数作为亮度统计特征;其次,计算8方向邻域MSCN系数间的互信息(MI),作为描述方向相 关性的统计特征;进而,分别利用支持向量回归机(SVR)和支 持向量分类机(SVC)构建无参考图像质量评价模型和图像失真类型识别模型; 最后, 在LIVE 等图像质量 评价数据库上进行了算法与DMOS的相关性、失真类型识别、模型 鲁棒性及计算复杂性等方面的实验。实 验结果表明,本文方法的评价结果与人类主观评价具有高度的一致性,在LIVE图像质量评 价数据库上的斯 皮尔曼等级相关系数(SROCC)和皮尔逊线性相关系数 (PLCC)均在0.945以上;而且,图像失真 类型识别模型的识别准确率也高达到92.95%,明显高于 当今主流无参考图像质量评价方法。