相关信道下基于V-BLAST的多码CDMA容量研究

垂直分层空时结构(VBLAST)与多码码分多址（CDMA）结合可显著提高通信系统的传输速率,而基于零相关窗互补码(LS码)的码分多址系统具有良好特性. 将三者结合研究了相关频率选择性信道下基于VBLAST多码CDMA的系统容量,并推导出容量计算公式. 仿真结果表明,基于零相关窗码的VBLAST的多码CDMA系统容量远高于基于正交码的V BLAST的多码CDMA系统容量.     

多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测

在多径衰落信道CDMA系统中，扩频码设计与联合检测为提高系统容量的两个重要手段。在扩频码设计中，通过构造零相关窗码可以消除MAI和ISI，从而提高系统容量。当扩频码相关特性不理想时，通过联合检测也可以消除干扰，提高系统容量。但二者都有一定局限性，对于零相关窗码来说，它的码字资源十分有限，对于联合检测来说，当用户数很大，它的复杂度不能容忍。该文将扩频码设计与联合检测结合起来，提出了一种具有组间零相关窗特性的新型扩频码。在扩频码设计时考虑联合检测，可以增加码字资源，在联合检测中考虑扩频设计，又可以降低联合检测的复杂度。     

关于零相关窗互补码理论界的几点讨论

提出了一类新型的零相关窗互补码，这类新型零相关窗互补码可以表示为三个独立的元素：一对相互正交的互补码、一个正交矩阵和一个标号矩阵的组合。本文重点讨论了这类新型零相关窗互补码的副峰平方之和的理论界，证明了几个重要的定理。这些定理包括：副峰的平方之和只是相对偏移的函数、零相关窗互补码集的一致性、列旋转不变性及列排列不变性等。这些定理对零相关窗互补码的设计具有重要的指导意义。     

LS码与、Walsh码的上行链路容量比较

该文首先分析了多径衰落信道下CDMA系统上行链路信道容量,文章对单用户接收机、多用户接收机两种情况下的信道容量分别作了讨论.对LS码和Walsh码的上行链路容量进行了比较.通过仿真可以看出在多用户检测条件下,两种扩频码提供的容量相差不大,而在单用户检测条件下,LS码则要大大优于Walsh码。     

PTA结晶过程模拟及优化

结晶过程是PTA生产过程的重要组成过程,其中温度与压力是影响PTA结晶过程产能的关键因素。文章基于Aspen Plus模拟结果对温度和压力在PTA结晶过程的取值进行了全面深入的研究并首推单个结晶器结晶模式。在保证Aspen Plus结晶模拟设置环境保证其合理的条件下;利用绝热条件和溶剂饱和状态的温度压力线差值推导最优结晶温度和压力;提出在最优温度和压力条件下以单个结晶器进行生产的优势。研究成果为工业生产PTA中温度和压力值的设定以及新型工业PTA结晶模式的建立提供了研究依据。