多通道逐次逼近型10 bit 40 Ms/s模数转换器的设计

设计了一个多通道逐次逼近型结构的10 bit 40 Ms/s模数转换器(ADC).由于采用时间交叉存取技术,提高了整个芯片的转换速度,同时通过运用比较器自校准和电容自校准结构,提高了整个电路的转换精度.本芯片采用Chart 0.25μm2.5 V工艺,版图面积为1.4 mm× 1.3 mm.40 MHz工作时,平均功耗为33.68 mW.输入频率19.9 MHz时,信号噪声失真比(SINAD)为59.653 3 dB,无杂散动态范围(SFDR)为74.864 6 dB.     

一种低失调CMOS比较器设计

本文在研究各种比较器失调消除技术基础上,提出了一种用于ADC电路的高速高精度比较器失调消除技术.该比较器由主动复位和共模箝位的预放大器和输出锁存器构成,通过负反馈自适应调整比较器输入失调电压,降低了开关电容沟道电荷注入和时钟馈通对比较器精度的影响.仿真结果表明,在Chartered 0.35μm COMS工艺下,电源电压3.3V,调整后的比较器失调误差为34μV,比较速率100MHz.     

一种时间交叉采样ADC失调与增益误差校准方案

针对时间交叉采样模数转换器的失调、增益误差提出了校准方案.该方案主要通过各通道模数转换器向同一通道校准的方法,首先计算出误差参数,再根据误差参数对数字量进行校准.采用该校准方案对四通道10位640 Msps模数转换器进行校准,经MATlAB仿真,结果表明输入频率为79.14 MHz时,校准后的无杂散动态范围为75.17 dB,信噪比为55.98 dB,有效精度为9.01 bit,比较准前分别提高了24.6 dB、6.47 dB、1.08 bit.