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磷砷镓铟禁带宽度的光电压光谱法测定 总被引:1,自引:0,他引:1
采用光电压光谱法测定InGaAsP/InP单异质结和双异质结外延材料的禁带宽度,为此材料和器件的研制提供了一种简便而有效的测试方法。 相似文献
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超高亮度(烛光级)发光二极管进展 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍各种发光波长超高亮度发光二极管的材料,器件,特性,结构及其应用,现已发展和生产坎德垃圾的超高亮度橙红色,黄色,绿色和蓝色发光二极管。 相似文献
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发光强度为12cd的超高亮度绿色InGaN单量子阱(SQW)结构发光二极管已研制成功。该器件的输出功率、外量子效率、峰值波长和光谱半宽在正向电流20mA下分别为3mW、6.3%、520nm和30nm。这种绿色InGaN单量子阱发光二极管的P-Al-GaN/InGaN/n-GaN是用MOCVD方法生长在蓝宝石衬底上。 相似文献
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介绍了InGaA1P超高亮度发光二级管的材料、器件、特性、结构及其应用。现已发展和生产坎德拉级的超高亮度投红色、黄色和绿色发光二极管。 相似文献
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光电压光谱法基于半导体材料的光生伏特效应。当单色光照射到半导体样品的表面或界面势垒区时,如果光子能量hv大于材料的禁带宽度E_g,光子就能激发出电子一空穴对;在势垒区空间电荷电场作用下,这些电子与空穴被置于势垒两侧,从而在被测样品的受光面和非受光面之间形成一定的电位差。当入射光光子能量hv小于材料的禁带宽度E_g时,就不 相似文献