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测试图形程序的进一步研究:PATTERN抽象及再实现 总被引:1,自引:0,他引:1
异构自动测试仪(ATE)之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作。通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直移。这样,如果在异构ATE测试图形语言之间找不到对应的语言成分,将导致实际有可能成功的移植失败。并且,即使这样移植成功,移植的测试图形程序可保证词法和语法的正确性,但在大多数情况下,这些程序仍不能在目标ATE上正确运行。本文在详细分析了传统移植方法后,提出一种基于异构ATE功能对等的移植方法,使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性。利用这种方法,可以大大提高测试图程序的可移植性。 相似文献
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现代电子计算机研制和生产中,从每一个装机的元件、电路,一块印刷电路单板,组装起来的插件板、功能模块、部件到一个设备、单机以至一个完整的电子计算机系统,各个环节都要进行测试,都有大量的测试问题需要进行深入的研究。计算机研制中另一个方面,如机器的指令、语言、各种系统软件组成等同样需要进行测试,同样有大量的测试问题需要进行深入的研究。这些测试工作不仅时间紧、数量多、工作量大,而且难度高。集成电路的测试,特别是LSI、VLSI的测 相似文献
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虽然内置自测试(BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公司才觉得有使用BIST的必要,如AT&T和IBM等。现在小一些的公司,象Level One通讯和Stratus计算机公司也已决定采用BIST,而且从事EDA的公司也正着手引入BIST工具。现有的BIST能满足用户需求吗?有些什么样的解决方案?我们如何使用BIST工具?还希望有什么新的应用?为了回 相似文献
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回顾了VLSI自动测试系统发展历程,介绍了VLSI ATS发展现状,并提出了未来发展中可能引起ATS发展突破的若干新技术和新思想。 相似文献
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系统芯片(SOC)测试 总被引:3,自引:0,他引:3
时万春 《电子测量与仪器学报》2004,18(Z1):10-15
SOC是一种比较有特点的集成电路,它不能像传统的集成电路那样进行测试.除了超过10亿位的数字通讯链路和已达千兆赫的工作速度,一个SOC可能已经包括了所有类型的逻辑电路、多种CPU、各种模拟模块和几百种不同类型的存储器.特别是它面临着测试的挑战,比如时钟域的增加、复用"黑盒"芯核或IP元件的使用,以及它们之间混合IP和匹配IP芯核的应用.它们实际上可能已经使用了不同的测试方法学.本文试图划出SOC的范畴、规范SOC测试特性、回顾SOC测试的发展,分析SOC测试方法学和SOC测试系统特性. 相似文献
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时万春 《电子测量与仪器学报》2007,21(4):1-4
近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是:IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFY测试、并发测试和开放式体系结构ATE。 相似文献
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