薄膜断面微观结构的扫描电镜观察

本文对薄膜微观结构的扫描电镜观察的实验技术进行了探讨,提供了具体的实验观察方法,并给出一组薄膜微观结构的扫描电镜照片。     

碘化汞(HgI_2)半导体探测器Ⅹ射线能谱仪

本文概述了HgI_2室温半导体探测器的原理.用这种探测器构成的X射线能谱仪,具有体积小,重量轻,能量分辨率好,探测效率高,灵敏度高等特点.文章还给出了谱仪系统的能谱特性,并简略介绍了在X射线荧光分析中的应用.     

用X射线能谱仪测定衬底材料上的薄膜厚度

本文利用薄膜对入射电子束流的衰减作用和薄膜对衬底的x射线的吸收,提出了一种直接利用衬底的x射线的强度比来测量薄膜厚度的方法。并在各种实验条件下,对Cu薄膜的厚度进行了测量,得到了较为满意的结果。     

高压绝缘氧化铝陶瓷涂覆层组织结构分析

用不同配方的Mn、Cr、Ti混合物涂覆α-Al2O3绝缘陶瓷表面，在适当条件下进行热退火处理，观测了各样品的二次电子发射系数，表面电阻率，XRD，发现涂层与陶瓷基体间相互扩散，结合紧密，有平整的表面组织结构，形成不同新相与原α-Al2O3混合的表面；样品表面电阻率降低，二次电子发射系数降幅达60％－65％。涂覆处理有利于提高真空绝缘子抗表面闪烁，耐高压击穿的能力。     

HgI_2探测器及其应用

HgI_2,CdTe及CdSe是较好的室温化合物半导体核探测器,特别是HgI_2,自七十年代初问世以来,在晶体的生长及探测器应用方面都取得了很大进展。目前,已生长     

TI-Ba-Ca-Cu氧化物超导体的微观结构研究

本文研究了Tl-Ba-Ca-Cu氧化物超导体的微观结构与烧结条件的关系,确定了超导相的结晶晶粒的形态特征、元素成分的比例关系,定出了零电阻转变温度为122K的超导相的结构式为TlBa_(1·2)Ca_(0·8)Cu_(1·3)Oy及其X射线的衍射数据。