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构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论 总被引:5,自引:3,他引:2
由于IC设计复杂度日益增加,用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60%—70%。我们认为针对某个领域的产品,开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向,本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法,并介绍了根据该方法,我们开发的一个面向SDH领域系列芯片的验证环境。 相似文献
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提出一种可扩展验证核的结构,根据该结构建立了一个面向光通信应用领域SDH系列芯片验证的可扩展验证核VIP,验证人员通过文本编辑,可以产生验证所需要的XML配置文件,VIP根据配置XML文件,产生仿真激励并在线检查仿真结果. 相似文献
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采用0.5um BiCMOS工艺设计了一种用于电源检测的上电复位电路。本文通过对比传统的上电复位电路,提出了一种结构新颖简单,性能可靠稳定的电路,最后利用Candence的Spectre给出了该电路在CSMC 0.5um工艺模型下的仿真后,结果表明,该电路的起拉电压相对稳定,受上电速率、温度和工艺的影响很小,性能远远优于传统的上电复位电路。 相似文献
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在计算机图形学中,通常采用各项同性滤波器逼近异性滤波器以减少纹理映射中发生纹理走样,逼近算法中实现MIP-MAP层级包含计算覆盖区域边长以及求对数等操作,用二次逼近或者Cordic算法等实现时电路较大.为了易于算法的硬件实现,提出用线性逼近计算覆盖区域边长和对数的算法.该算法用一次移位和一次加法实现覆盖区域边长计算,用一次加法实现对数计算,降低了硬件实现成本.在Xilinx的ZC706开发板上实现了文中算法,实验结果表明,该算法所计算MIP-MAP的层级数与原算法的计算误差绝对值为1的概率为7%. 相似文献
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