菜单方式全自动测试系统

我们介绍一个菜单方式全自动测试系统,主要用于晶体管特性分析。它是由上海冶金研究所研制的CID-1型数字电源接线逻辑控制器(简称CID)采用IEEE-488接口技术,在研制的专用软件支持下,与微机 IBMPC/XT、FLUKE 8840A数字电压表相连,构成的一个积木式智能测试系统。采用菜单方式全自动测试技术,可灵活实现各种直流特性的测试自动切换。研制的数据处理软件用以实现器件参数的优化提取。测试数据、计算结果及曲线图表可由CRT显示,亦可由打印机统一打印记录。该系统具有全自动、操作简     

溅射GaAs SOI电子束退火再结晶及MBE GaAs SOI高频感应石墨棒热退火再结晶

本文首次报道了溅射GaAs SOI电子束退火再结晶以及MBE GaAs SOI高频感应石墨棒热退火再结晶.对实验所得SOI样品,用ED和TEM分析GaAs 薄膜的结晶性,用X-射线衍射测量薄膜表面的择优取向,用霍耳效应测量定出载流子浓度和迁移率.     

GaAs/AlGaAs量子阱中电子浓度的自洽计算

应用波函数展开方法,自洽计算了调制掺杂AlGaAs/GaAs/AlGaAs量子阱中电势能分布、子能级位置、2DEG浓度分布和2DEG面浓度n_s,以及这些参数与量子阱宽度、不掺杂AlGaAs厚度等材料参数的关系.计算表明,量子阱中2DEG n_s比单异质结n_s大2倍左右,量子阱宽度在200-300A之间n_s有个最大值;量子阱太宽时,2DEG主要集中在两边异质结界面附近,变为双异质结.