组件级电子产品ESS试验条件剪裁方法研究

针对组件级电子产品按照GJB1032要求实施ESS试验过程中出现的效率低、时间长等问题,探索了一种基于GJB1032的ESS试验条件剪裁方法,并基于筛选度模型从理论上证明了该方法的可行性。最后,针对某型号中的变频组件,运用所提出的方法制定了温度循环筛选试验条件。通过与GJB 1032中的对应条件对比,所提出的剪裁方法在不影响筛选效果的前提下,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,节省人力资源和试验成本。