通用红外测试系统的精度分析

采用美国PI、Santa Barbara红外和Lumitron的红外测试设备,进行系统集成,构建成了通用的红外测试系统.它既能完成1 024×1 024元以下任意像元数的中波红外和长波红外焦平面阵列性能参数的测试,又能完成中波红外和长波红外热像仪系统级性能参数的测试,具有很好的适用性及技术的先进性.中波红外热像仪的测试结果NETD=15.8 mK,与CEDIP的结果15.13 mK相差0.67 mK.测试精度为±1.49 mK.长波制冷红外焦平面阵列探测器的测试结果NETD为26.47 mK,与Sofradir的结果24.43 mK相差2.04 mK,测试精度为±1.63 mK.     

320×240红外焦平面阵列驱动电路的小型化设计研究

文中提出了 32 0× 2 4 0红外非制冷焦平面驱动电路及焦平面阵列模拟输出信号的数字化设计方法。采用Xilinx公司的XC950 0系列综合可编程逻辑器件设计时序电路 ,以实现电路的小型化。采用VHDL语言进行设计 ,便于在试制过程中对电路的逻辑进行修改。采用TI公司的A/D转换器THS140 8对焦平面输出的 5.5M模拟信号进行模数转换 ,降低了后续传输过程中的干扰。为 32 0× 2 4 0凝视型非制冷红外热像仪的研制打下了基础。     

5x磁光盘光学头定位的研究

本文对磁光盘的接口标准SCSI-Ⅱ进行了分析。在分析的基础上提出了用DOS中断4B来进行磁光盘驱动器中光学头的逻辑道定位。同时，在分析4X密度磁光盘标准ISO／IECDIS15401：1996（E）的基础上，提出了逻辑道和物理道对应关系。这为磁光盘的跨道信号、推挽信号和预制信号的测试奠定了基础。     

浅谈红外测试标准的传递

简述了目前红外测试标准传递的体系,红外标准从国家级红外辐射计、凝固点黑体、传输标准点温仪或者可变温度黑体或者标准探测器到用户黑体依次进行传递.目前对红外参数标准的传递和测试设备的校准,集中在黑体的校准、探测器响应曲线的校准、光学系统反射率、平行光管的透过率的校准上.通过对这些关键部件性能参数的校准,可以保证红外测试的精度.分析了影响NETD测试不确定度的几个因素,高精度的黑体是测试高灵敏度红外探测器和红外热像仪的必备条件之一.华中光电技术研究所建立了用户红外标准传递体系,其红外标准可以回溯到美国国家标准与技术监督局.其红外测试精度与国外公司的测试结果的偏差在10%以内.给出了我国建立红外测试标准的建议.     

480×6制冷长波红外探测器的测试

480×6制冷长波红外探测器是新一代光电装备的核心器件,其测试结果能为新一代光电装备提供设计参考数据。480×6制冷长波红外探测器需要至少9路模拟偏压和3路数字信号,才能正常工作。其模拟视频信号输出为16路信号。偏压精度不高或者采集通道之间微小的噪声差异会大大影响测试的精度。88μV的系统电噪声会对D^＊值带来13．8％的误差。设计了低噪声的480×6长波制冷红外探测器的测试接口电路,编制探测器工作所需要的模拟偏压和数字时序信号,采用4路低噪声采集模块采集探测器4路输出的30×120的图像。编程读出SAS系统^＊.SFS测试文件中的测试数据,对像元进行排序,得到120×120的图像。重复4次,得到480×120的图像。首次完成了480×6制冷长波红外探测器的测试,其D^＊测试结果为2.726×10^11 Jones,与3年前的测试结果只有13．8％的偏差。     

基于脉冲偏置的红外热像仪的噪声等效温差精度分析

分析了采用脉冲偏置电压读出电路的 32 0× 2 4 0凝视型非致冷焦平面 (UFPA)的原理。根据处于脉冲偏置的红外热像仪的成像过程 ,分析了影响非致冷热像仪 NETD的几个因素。数值计算表明 :脉冲偏置时 U FPA温度升高带来的误差 ,是影响热像仪噪声等效温差精度的主要因素     

非制冷热成像最新发展和应用前景

综述了非制冷热成像技术的最新发展和研究趋势及其应用前景。热释电焦平面阵列和微测热辐射计焦平面阵列已成为两种主流非制冷红外探测器。前者的年增长率为11．4％,后者的年增长率为32．4％。非制冷热成像技术在作用距离上优于微光成像、在体积和成本上优于制冷红外成像技术,使之成为中距离探测的主力军,并有可能在不远的将来在许多应用方面代替制冷热成像技术。     

480×6制冷长波红外探测器的测试

480×6制冷长波红外探测器是新一代光电装备的核心器件,其测试结果能为新一代光电装备提供设计参考数据.480×6制冷长波红外探测器需要至少9路模拟偏压和3路数字信号,才能正常工作.其模拟视频信号输出为16路信号.偏压精度不高或者采集通道之间微小的噪声差异会大大影响测试的精度.88μV的系统电噪声会对D*值带来13.8%的误差.设计了低噪声的480×6长波制冷红外探测器的测试接口电路,编制探测器工作所需要的模拟偏压和数字时序信号,采用4路低噪声采集模块采集探测器4路输出的30×120的图像.编程读出SAS系统*.srs测试文件中的测试数据,对像元进行排序,得到120×120的图像.重复4次,得到480×120的图像.首次完成了480×6制冷长波红外探测器的测试,其D*测试结果为2.726×1011Jones,与3年前的测试结果只有13.8%的偏差.