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1.
基于压电陶瓷驱动器,选用2×2微扫描模式,降低了系统控制难度。分析了影响微扫描器控制的几个因素,设计了一款以单片机为核心的控制电路,解决了微扫描器位移与同步的控制问题,并以此构建了一款基于国内某制冷型探测器的反射式微扫描热像仪,通过实验验证了采用2×2微扫描模式能够有效提升热像系统的空间分辨力。  相似文献   
2.
介绍了叠层紫外/红外双色探测器结构特点、工作原理及选择CdS晶体材料制作紫外探测器光敏元的理论依据。阐述了CdS晶片制备及表面抛光质量的重要性和必要性。针对磨抛工艺对CdS紫外探测器性能的影响进行了研究。对比了几种抛光液对晶片表面的抛光效果,并进行了扫描电镜、红外透过率和表面粗糙度分析,得到了抛光后晶片表面的扫描电子显微镜(SEM)照片和CdS晶片厚度与红外透过率的关系曲线及CdS晶片厚度与振动噪声的关系。通过理论和实践的结合,确定了最佳抛光材料及最佳晶片厚度,研制出了完全能满足紫外探测器工艺要求的CdS探测器晶片。  相似文献   
3.
光刻技术在铟柱制备工艺中的应用研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
简要介绍了光刻在 1 2 8× 1 2 8混合式非制冷热释电焦平面 (UFPA)探测器制作中的重要地位 ,重点介绍了光刻在铟柱制备中的应用研究。对铟柱成形的几种方法进行了比较 ,确定了剥离法制备铟柱。并进行了光刻实验与分析 ,得到了满足 1 2 8× 1 2 8混合式非制冷热释电焦平面器件倒装互连的铟柱  相似文献   
4.
着重介绍了我们在“1 2 8×1 2 8混合式热释电非致冷焦平面探测器列阵(UFPA)”研制中铟膜及铟柱的制备和我们选择铟做混合式UFPA互连材料的理由与互连方法。强调了铟膜制备基本工艺要求。根据薄膜均匀性要求 ,计算出了蒸发源距工件的距离及所需材料量 ,确定了保证铟膜不氧化的关键数据及具体操作。文中给出了铟柱列阵显微照片 (显示了铟膜厚度)和铟柱列阵的立体形貌像 ,还介绍了铟柱列阵成型方法及铟柱生长工艺流程 ,并叙述了倒装互连技术 ,且给出了我们的成像演示照片和器件照片 ,展示了UFPA的应用前景  相似文献   
5.
阐述热释电探测器NEP参数的测量原理和方法,分析热释电探测器NEP测量不确定度的来源,计算NEP实际测量中的测量不确定度,计算结果表明,测量环境和测量过程中探测器光敏元与辐射源的准直度是影响热释电探测器NEP测量不确定度的主要因素,指出提高热释电探测器NEP参数测量质量的措施.  相似文献   
6.
雅安地区石材工作会议于2000年1月10日—11日在雅安召开。 这次会议的主要内容是:总结1999年全区石材工作取得的成绩,分析研究石材工业存在的问题,部署2000年全区石材工作,研究和编制雅安地区石材工业“十五”发展规划。  相似文献   
7.
杨思全  杨登全 《石材》1999,(6):30-31
四川省宝兴县大理石资源十分丰富,品种多,分布广,是中国名特石材品种“宝兴白”(M5101)、“宝兴青花白”(M5104)和四川省名优石材品种“宝兴青花灰”(M5103)大理石的产地。宝兴县委、政府立足县情,制定了资源启动战略,并把开发以大理石为主的石材产业作为实施这一战略的突破口,明确和不断完善了“以市场为导向,以科技进步为动力,以名特产品为龙头,以经济  相似文献   
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