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我们在文献[1]中已报导了我们采用的全息干涉法与斑纹干涉法相结合来测量物体三维微小位移的实验。虽然是在同一张底片上记录了物体面内与离面位移的信息,但是提取这两种信息仍要分两步来完成。即先用重现全息图的方法提取出物体离面位移的信息,然后对底片作光学傅里叶变换提取出
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本文分析了超声检测目前分辨率受限的根本原因,并提出用光学计算方法实时处理超声回波讯号,以改善其分辨率。
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本文介绍了在同一张双曝光的象平面全息图上测量物体三维微小位移的方法。其中离面位移用双曝光全息干涉法来测量,而面内位移则通过对该全息图中同时包含的迭加斑纹图样作光学傅里叶变换来测量。文中首先叙述测量的基本原理,然后给出一组实验结果。
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通常光电检测均采用脉冲调制驱动方式。为了提高灵敏度,本文在接收到的调制信号中,引入参考信号以形成相关运算。由于调制的高频信号与参数信号的相关函数有一
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本文提出一种检测两幅图象之间差别的新方法——把白光调制的斑纹图样作为光学信息处理时的无规载波.实验证明,此法也会有效地产生很高的裕量来对图象的信息编码.所得的结果与Francon等人提出的用相干光调制的斑纹图样法的结果相类似,但这里提出的方法较简便.
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