WiNoC中基于Edge first算法的流量平衡设计

在无线片上网络中,无线节点拥塞以及不同子网和全局网络内的流量平衡情况对整个片上网络的通信效率有着重要的影响,为此提出了基于Edge first算法的全局流量平衡机制（GTB）。首先优化了划分有线无线数据包的机制,减少了无线节点处的拥塞;其次根据无线路由器（WR）的拥塞情况,提出Edge first路由算法平衡子网内的流量;最后在全局网络中提出了全局子网拥塞感知（GSCA）判断机制,使得长距离数据包优先从低拥塞子网通过,平衡了全局网络的流量。实验表明,该方案在可接受的硬件开销、功耗开销下,保证较低的网络延迟和较高的网络吞吐率,并且大幅的提升了网络的流量平衡性能。     

容忍单粒子多节点翻转的三模互锁加固锁存器

为了能够容忍单粒子多节点翻转,提出了一种新颖的三模互锁加固锁存器。该锁存器使用具有过滤功能的代码字状态保存单元（CWSP）构成三模互锁结构,并在锁存器末端使用CWSP单元实现对单粒子多节点翻转的容错。HSPICE仿真结果表明,相比于三模冗余（TMR）锁存器,该锁存器功耗延迟积（PDP）下降了58.93%;相比于容忍多节点翻转的DNCS-SEU锁存器,该锁存器的功耗延迟积下降了41.56%。同时该锁存器具有较低的工艺偏差敏感性。     

公钥密码系统中的硬件二元域求逆模块

针对二元域上基本运算求逆操作的复杂性问题,将软件应用中效率较高的求逆算法移植到现场可编程门阵列中,利用其分步特点获取较低延迟,并采用度数和乘法的规律性对执行周期进行缩减,以较小的硬件开销增量换取较大的性能提高。仿真实验结果表明,该模块能够适用于多个二元域及软件求逆。     

基于关键IP核加固的片上网络容错机制

片上网络中的路由器故障将导致与其相连的IP核不能通信,严重影响了片上网络的性能.因此提出一种基于片上网络2D-mesh结构的容错机制,通过将关键IP核的资源网络接口与相邻节点的资源网络接口相连进行IP核的加固,在每个路由器的各个端口中配置邻居节点状态寄存器标示邻居节点的好坏,在路由计算时通过检查寄存器绕过故障路由器,同...     

一种低功耗SoC芯片的综合BIST方案

提出了一种低功耗的综合BIST方案。该方案是采取了屏蔽无效测试模式生成、提高应用测试向量之间的相关性以及并行加载向量等综合手段来控制测试应用，使得测试时测试向量的输入跳变显著降低，从而大幅度降低芯片的测试功耗。测试实验表明，该方案既能减少测试应用时间，又能够有效地降低芯片测试功耗，平均输入跳变仅为类似方案的2.7%。     

基于2D Mesh的NoC路由算法设计与仿真

在研究Turn Model模型的基础上,提出一种基于2D Mesh结构的XY-YX路由算法,是一种确定性的无死锁的最短路径路由算法。给出无死锁的证明,通过片上网络（NoC）模拟仿真实验平台NIRGAM,将该算法在一个4×4的2D Mesh网络中进行仿真,并与XY路由算     

一种自恢复容SEU锁存器的设计

随着集成电路工艺水平的不断提高、器件尺寸的不断缩小以及电源的不断降低,传统的锁存器越发容易受到由辐射效应引起的软错误影响。为了增强锁存器的可靠性,提出了一种适用于低功耗电路的自恢复SEU加固锁存器。该锁存器由传输门、反馈冗余单元和保护门C单元构成。反馈冗余单元由六个内部节点构成,每个节点均由一个NMOS管和一个PMOS管驱动,从而构成自恢复容SEU的结构。在45 nm工艺下,使用Hspice仿真工具进行仿真,结果表明,与现有的加固方案FERST[1]结构相比,在具备相同面积开销和单粒子翻转容忍能力的情况下,提出的锁存器不仅适用于时钟门控电路,而且节省了61.38%的功耗-延迟积开销。     

部分向量奇偶位切分的LFSR重新播种方法

提出一种基于部分测试向量奇偶位切分的LFSR重新播种测试方法.针对确定测试集中各个测试向量包含确定位的位数有较大差异以及测试向量所含的确定位大多连续成块的特点,通过奇偶切分部分确定位较多的向量,使得编码压缩的LFSR度数得到有效降低,从而提高了测试数据压缩率.其解压缩电路仍然采用单个LFSR进行解码与切分向量的合并.与目前国际同类编码压缩方法相比,具有测试数据压缩率高、解压硬件开销低、测试数据传输协议简单等特点.     

一种多核共享测试数据的BIST方案

文中提出了一种新颍的SOC芯片BIST方案。该方案是利用相容技术和折叠技术，将SOC芯片中多个芯核的测试数据整体优化压缩和生成，并且能够实现多个芯核的并行测试，具有很高的压缩率，平均压缩率在94％以上；且结构简单、解压方便、硬件开销低，实验证明是一种非常好的SOC芯片的BIST方案。     

A Mixed-Mode BIST Scheme Based on Folding Compression

In this paper a new scheme of mixed mode scan-based BIST is presented with complete fault coverage,and some new concepts of folding set and computing are introduced.This scheme applies single feedback polynomial of LFSR for generation pseudo-random patterns as well as for compressing and extending seeds of folding sets and an LFSR, where we encode seed of folding set as an initial seed of LFSR .Moreover these new techniques are 100% compatible with scan design .Experimental results show that the proposed scheme outperforms previously published approaches based on the reseeding of LFRSRs.