用双玻璃片剪切干涉仪测量弯曲平板的倾斜和弯曲

在平面变形和应力测量中,需要测定位移倾斜和弯曲等物理最。弯曲平板的曲率测量尤为重要,因为在薄板小弯曲理论中,应力与曲率直接有关。已经研究了多种测定曲率的方法。数值微分法须对离面位移数据进行两次微分,误差较大;重叠错位等倾斜纹图,过程繁复;多次曝光法可记录全场干涉图样,但往往是等倾斜条纹和等曲率条纹的混合条纹图样,对比度比较低。本文介绍一种一次曝光就可记录等倾斜条纹图样或等曲率条纹图样的光学方法,光路简单,条纹图样清晰。