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1.
为了探究广义网孔方程建立规范和方法,对含有公共电流源支路电路的网孔方程进行详细的理论分析,探寻了广义网孔方程的构成规律,得到了广义网孔方程的建立算法,该算法具有普适性。在应用网孔分析法分析含有公共电流源支路的电路问题时,在不引入辅助解变量的情况下,利用该算法可快捷地建立起广义网孔方程,提高了分析和求解效率。由实例证明,广义网孔方程建立算法是正确的、有效的,是对网孔分析法的一种推广和完善。  相似文献   
2.
提出了一种基于OrCAD/PSpice9的电路多目标优化设计方法,应用该方法可以对各目标参数问的互抗性进行定性分析,并有效地确定他们的权系数,从而实现电路的最佳设计。  相似文献   
3.
赵天绪  段旭朝 《电子学报》2012,40(8):1665-1669
在集成电路可制造性设计研究中,成品率与可靠性之间的关系模型备受人们关注.缺陷对成品率和可靠性的影响不仅与出现在芯片上的缺陷粒径大小有关而且与缺陷出现在芯片上的位置有关.本文主要考虑了出现在互连线上的金属丢失物缺陷对互连线的影响,分析了同一粒径的缺陷出现在互连线不同位置对互连线有效宽度的影响,给出了基于缺陷均匀分布的互连线平均有效宽度,结合已有成品率和可靠性估计模型,提出了基于缺陷位置信息的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型.在工艺线稳定的情况下,利用该工艺线的制造成品率可以通过该关系式有效地估计出产品的可靠性,从而有效地缩短新产品的研发周期.  相似文献   
4.
IC优化设计及其成品率预测   总被引:3,自引:3,他引:0  
IC成品率是与电路性能和制造成本及制造效益紧密相关的一个重要因素,在进行IC优化设计时,可将成品率与制造效益作为协调各性能指标的优化目标.针对这一问题,本文完善了IC成品率效益协调优化设计模型,提出了一种实现该模型的IC优化设计和成品率预测方法,并利用OrCAD/PSpice中的统计分析和电路性能分析的功能和特点,建立了相应的算法.实例表明,该方法及其实现算法是有效的.  相似文献   
5.
基于IC产品分档的成品率与效益协调优化设计方法   总被引:1,自引:1,他引:0  
文章在对IC产品按性能优劣分档的基础上,构造了一个既能体现IC产品的性能优劣和价格大小,又可根据各档次IC产品的市场价格进行调节的性能价格函数:Ep(X)=-1pln{e^-p ∑Mi=1e^P(kiΦi(x)-α)},从而建立了成品率与效益协调优化模型:maxX^0YE(X^0)=∫R^aEp(X)P(X,X^0)dX。  相似文献   
6.
对广电宽带网中采用以太网和基于HFC的Cable Modem接入方式的投资做了对比,同时也对两种接入方式的技术做了分析,给出宽带网两种接入方式的工程投资与回报规律,阐述了两种接入方案的应用特点.  相似文献   
7.
以市政道路工程项目管理质量为研究对象,从市政工程施工项目管理存在的问题出发,提出影响项目管理的主要原因,原因包含管理规范影响、施工进度和成本、质量控制管理不协调产生的影响、管理制度方面存在的影响,且在分析相关问题基础上提出了针对性的项目管理强化措施,目的在于提高市政道路工程项目管理水平。  相似文献   
8.
基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
赵天绪  段旭朝  郝跃 《电子学报》2005,33(11):1965-1968
缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为"硬故障"或"软故障"的概率,给出了精度较高的IC成品率预测模型.利用成品率缺陷与可靠性缺陷之间的关系,给出了工艺线生产的产品的失效率与该工艺线制造成品率之间的定量关系.在工艺线稳定的条件下,通过该工艺线的制造成品率可以利用该关系式可以有效的估计出产品的失效率,可以有效地缩短了新产品的研发周期.  相似文献   
9.
针对H62银钎焊过程温度难以控制的特点,设计了基于单片机的银钎焊温度控制系统.采用多个K型热电偶采集温度,采集的温度经MAX6675放大、冷端补偿、线性化后送入单片机进行处理,能实时显示输出温度并报警.实现了焊缝温度动态测量、监控及报警,避免了焊缝过烧造成的脱锌现象,解决了镀银件花斑质量问题.  相似文献   
10.
利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测IC成品率具有更高的精度.  相似文献   
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