分析卤化银微晶的EDS方法探讨

本文探讨了用Ｘ射线能谱仪（ＥＤＳ）分析卤化银微晶的空间分辨率和吸收修正问题。对ＳＥＭ－ＥＤＳ和ＳＴＥＭ－ＥＤＳ两种不同分析模式的空间分辨率进行计算，表明ＳＴＥＭ－ＥＤＳ是研究单个卤化银微晶内碘的含量及分布的有效方法。并对定量分析数据和吸收修正参数进行了讨论，结果证明微晶不同区域厚度的差异，对碘含量的定量测定的影响可以忽略。     

单个Ag(Br.I)微晶颗粒内碘含量及其分布的实验观察

至今几乎所有的高感相乳剂都是碘溴化银乳剂。掺杂碘是提高基本乳剂感光度的重要手段之一。碘溴化银乳剂的感光性能不仅与其中碘的含量有关,而且与碘在Ag(Br.I)颗粒内的分布关系很大。我们用扫描透射电子显微镜和x射线能谱仪直接观察记录了单个Ag(Br.I)微晶颗粒内碘的含量及其分布,得到一些初步结果,这对研究乳剂制备条件对Ag(Br.I)乳剂微晶的结构与性能的影响等是很有用的 1.薄片状颗粒(T颗粒)     

单个Ag(Br,Ⅰ)微晶颗粒内碘含量及其分布的实验观察

本文用透射扫描电子显微镜与X射线能谱仪相结合,观察分析了几种不同Ag(Br,I)乳剂中单个Ag(Br,I)微晶颗粒内的碘含量及其分布,得到了一些初步结果。这种方法所提供的信息对于研究乳剂制备条件对Ag(Br,I)微晶结构与性能的影响等是很有用的。     

片状卤化银晶体的制备、结构与性能的研究——碘离子在不同结构的片状卤化银晶体中的分布及其离子电导行为

本文制备了三种结构不同的片状卤化银晶体。用电子显微镜和X射线能谱仪相结合的方法,对单个晶体进行了微区微观结构分析,测定了碘离子在三种不同结构的片状颗粒中的分布,并测量了不同结构片状颗粒的和同一结构不同碘含量的片状颗粒的介电损耗。     

片状卤化银晶体的制备、结构与性能的研究——Ⅲ.碘离子分布对片状卤化银晶体光电性能的影响

本文制备了一系列结构不同的片状卤化银晶体,用扫描透射电子显微镜和X射线能谱仪相结合的方法对单个微晶进行了亚显微结构分析。半定量地测定了碘离子在不同结构的片状晶体中的分布,同时测量了各样品相应的介电损耗、Dember效应的光电压及高低照互易律失效。结果表明,在四种碘离子分布不同的片状卤化银晶体中,其微晶的离子电导率、高低照互易律失效、Dember效应的光电压衰减都随微晶中碘离子的分布不同而异,而且与乳剂的感光性能有很好的对应关系。     

卤化银微晶的含碘结构的测定

用超薄切片法及X-射线线扫描法研究了半个碘溴化银微晶中碘的成层分布,结果与预想的碘的分布相一致。横扫过薄样品的X-射线线扫描提供了一个比较准确的测定含有不同碘量成层结构的技术。这有助于我们改进碘溴化银乳剂的制备。文章还讨论了在该种工作条件下,X-射线源的空间分辨率和超薄切片的厚度。 利用这种方法,把一种商用多层彩色片做超薄切片,用X-射线线扫描法直接对超薄切片中卤化银微晶的断面扫描,得到了各个轧剂层中的卤化银微晶的含碘结构。