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本文使用LMTO-ASA方法计算ZnS掺入激活剂铜所形成的铜发光中心的电子结构,分析了两种不同铜价态的影响.结果表明:尽管两种情形下禁带中铜3d能级均靠近价带顶,但掺杂二价铜时发光中心的能级结构符合Schon-Klasens模型,而掺杂一价钢的结果支持Williams-Prener模型. 相似文献
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采用光荧光和阴极荧光方法 ,对 Ga N外延层中的黄色和蓝色发光进行测量分析 ;同时 ,采用原子力显微镜、扫描电镜及其能谱测量外延层中的缺陷。结果表明 ,黄色和蓝色发光与残留杂质有关。采用第一原理计算结果显示 ,残留 C、O杂质、本征缺陷等是黄色和蓝色的可能物理起源。采用原子力显微镜、扫描电镜、透射电镜及其能谱对 Ga N/Al Ga N异质结中的纳米管进行观测 ,了解了纳米管的形貌。结果表明 ,构成纳米管的小面可能是外延过程中表面吸附引起的 ;计算结果显示 ,纳米管形貌变化与 Ga N/Al Ga N界面处晶格失配应力有关。采用透射电镜观察外延层中沉积物及其周围位错的结构表明 ,沉积物附近应力的存在是位错产生的主要原因 相似文献
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