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对一种流水线型模数转换器(ADC)的时序电路进行了改进研究。改进时序延长了余量增益单元MDAC部分加减保持相位的时长,可以在不增加功耗与面积的情况下,将一种10位流水线型ADC在20 MS/s采样率下的有效位(ENOB)从9.3位提高到9.8位,量化精度提高了5%;将该ADC有效位不低于9.3位的最高采样率从21 MS/s提高到29 MS/s,转换速度提高了35%。ADC的采样频率越高,改进时序带来的效果越显著。该项技术特别适用于高速高精度流水线型ADC,也为其他结构ADC的高速高精度设计提供思路。 相似文献
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单粒子效应严重威胁着航天器半导体器件的可靠性和寿命。因此,半导体器件的单粒子效应研究具有重大的现实意义和明确的应用价值。基于虚拟仪器技术的SRAM测试系统主要针对SRAM的单粒子翻转(sEu)、单粒子闩锁(SEL)两种效应的地面模拟实验而建立。 相似文献
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为满足种类繁多、功能复杂集成电路的单粒子效应评估需求,克服目前国内地面单粒子辐照实验环境机时紧张、物理空间有限等方面的限制,设计实现了一款高效通用的集成电路单粒子效应测试系统。创新性地采用旋转立体垂直结构,包含一个多现场可编程门阵列(FPGA)电测试平台、运动控制分系统和被测器件装载板。便携式箱体结构仅需3个DB9接口即可完成所有与外界连线;基于LabVIEW实现上位机交互界面,界面友好;基于多FPGA平台实现下位机测试程序,灵活可扩展,通用性强。可实现8种300及以下管脚集成电路的一次安装、自动切换和10°~90°的角度辐射。实时监控并后台记录翻转数据、翻转时间、电路状态等细节信息,测试频率可达100 MHz。已通过专用集成电路(ASIC)、静态随机存取存储器(SRAM)、控制器局域网络(CAN)接口电路等集成电路的多次实测,验证了该系统的可靠性及其高效稳定、集成度高、安装调试方便等特点。 相似文献
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