对嵌段高分子的Monte Carlo模拟

对高分子进行Monte Carlo模拟己很普遍,但对嵌段高分子的研究还很少见报道。本文处理了刚性和柔性段成次序排列的链,考虑了柔性链和刚性链相互影响以及如何用计算机解决这种影响的方法。     

国际液晶聚合物会议(北京)

国际液晶聚合物会议(ICLCP)将于1994年9月6—9日在中国北京举行。该学术会议是受IUPAC(国际纯粹与应用化学联合会)委托、由中国化学会组织的,会议主席和秘书长分别由北京大学周其凤和清华大学王新久担任。会议内容为液晶聚合物(包括热致、溶致、主链和侧链、低聚物、网络、复合材料等)的合成、结构、相交、缺陷、流变、不稳定性、电光效应,以及应用等。会议邀请报告名单已经初步确定,包括     

扭曲型液晶器件的光学设计考虑

介绍扭曲型液晶器件的光学设计考虑，从扭曲型液晶盒的光学计算出发，首先分析了双折射型和导波型两类扭曲型液晶盒不同的光学特性，进而给出了扭曲型液晶器件的设计要点，并且举例分析比较了ＯＭＩ和ＳＴＮ／１８０，以及双折射型ＴＮ和无取向ＴＮ的显示特性。     

低扭曲向列相液晶显示器

提出了一种新型反射式液晶显示器－低扭曲向列相ＬＣＤ。ＳＢＴＮ在扭角，盒厚与双折射系数的乘积、及偏振器的取向等方面作了特殊的设计，表现出良好的电光性能。对亮度，对比度，色散与多路能力进行了理论分析与实验检验。实验原型表现出高亮度，低色散，良好的多路能力，良好的视角与响应性能。它还具有良好的加工容限，因而生产成本低。     

方形探针测量矩形薄片电阻率的一种新计算方法及讨论

本文应用Schwarz变换简化了边界条件,讨论了方形四探针测量单面及双面扩散的矩形半导体薄片电阻率的修正因子,给出了用雅可比椭圆函数表示的公式。结果还表明采用适当的样品形状及探针排列可以提高测量的精度。对于双面扩散样品,还存在一个最佳形状,即当a/d=1时,修正因子与样品大小无关。     

液晶小预倾角测试的数值分析

用晶体旋光法测量液晶薄层的预倾角,文献[1]介绍了测出光强透过率曲线T(i),据“对称”极值点ix由     

向列相液晶的Freedericksz转变的讨论

本文从向列相液晶的Frank弹性理论出发,应用条件极值的变分方法讨论了恒磁场作用下向列相液晶Freederickxz转变。在外磁场影响下的形变向列相液晶是各向异性非均匀介质,液晶内部会出现不均匀的感应磁场,它甚至出现在垂直于外磁场的方向,从而又影响液晶形变分布。结论表明,Freederickxz转变的阀值和形变分布不仅与磁导率各向异性有关,而且与该张量的主轴分景有关。     

无补偿超扭曲液晶显示器

提出了一种新颖的液晶显示器－无补偿超扭曲ＬＣＤ。这种ＸＳＴＮ在扭角，液晶混合物参数，盒厚与双折射系数的乘积，以及偏振片的取向等方面均经特殊设计，表现出良好的电光特性。对于它的亮度，对比度以及多路能力的理论预见已为为实验所证实。     

液晶的结构,缺陷与织构

液晶结构，缺陷与织构是相互关联的内容，液晶结构对称性的破坏产生缺陷，液晶缺陷的集合形成织构，而织构观察反过来又是鉴定液晶结构的重要手段，液晶结构，缺陷与织构即是液晶研究十分有趣的课题，同时对于液晶工业人员也是重要的，这篇文章液晶相分类，液晶结构，液晶相变等概念出发，应用拓扑分析，伏尔特拉过程，连续体弹性形变等理论，分析了向列相，胆甾相，近晶相（Ａ、Ｃ和Ｃ）液晶中，点，线和壁缺陷，包括向错，位错以及     

测量薄层电阻修正因子的一种计算方法

本文讨论了用直线排列的四探针测量矩形薄层电阻的几个问题.应用Schwarz变换简化了边界,给出了薄层电阻修正因子的不用无穷级数表示的解析公式.并给出了完整的测量误差分析.计算结果还表明,对于单面样品,采用长宽比大于1.5的矩形样品比方形样品要准确;对于双面扩散矩形薄层,则存在一个最佳形状,即当长宽比为1.12时,修正因子几乎与样品的大小无关.