电光取样技术在ps级超短电脉冲测量和GHz高频电信号测量中的应用

对ps级超短电脉冲测量而言,电光取样是目前最准确、最有效的方法之一。本文介绍了电光取样的基本测量原理及实验途径,对测量的误差因素进行了分析。电光取样对由电光晶体如GaAs、LiNbO_3等制成的光电器件的瞬态响应测量具有特殊优点。本文着重对GaAs集成电路的瞬态测量原理和方法及误差因素进行了介绍。电光取样基于谐波混频原理对GaAs高频场分布的测量也十分有效。     

AlGaAs/GaAs异质结构外延材料均匀性的电光测量

本文介绍了连续波电光检测法(CWEOP—continuous wave electro-optic probing)应用于AlGaAs/GaAs异质结构材料均匀性测量的原理、实验装置和实验结果。扫描电子显微镜电压衬度技术也用于观察测量样片,比较两者的结果发现有较好的对照。最后,讨论了实验结果,并对方法的应用作了展望。     

不同状态下激光器电场强度分布的电光检测与初步分析

连续波电光检测技术是近几年发展起来的测量光电材料及光电材料制备的器件的电特性的一种新型测量技术。它基于线性电光效应。采用连续波激光作为测量手段。 CW EOP技术已在GaAs,LiNbO_3等光电材料及器件的电场分布检测中得到实质性应用。采用CWEOP技术对半导体激光器内场分布电光检测的初步结果在文献[4]中已有报道,本文是对激光器在不同状态下进行场分布电光检测的更进一步探讨。     

半导体激光器中电场分布特性的连续波电光检测

利用连续波电光检测法首次成功地对AlGaAs/GaAs半导体激光器中的电场分布进行了测量.测量结果直接表征了器件注入电流扩展和载流子限制特性. 本文简要地描述了方法的原理和实验装置,给出了典型的测量结果并对其进行了讨论.