分组频率Golomb码测试数据压缩研究

提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法。方案针对测试集中游程长度分布的不均匀性,重新构建Golomb码的前缀码,用短码字来编码包含游程长度多的分组。同时,在差分过程中,通过给无关位合理赋值来减少测试集中“1”的个数,从而减少了游程的数目。实验结果表明,建议方案能有效提高Golomb码的压缩率。     

基于折叠集的低功耗测试

提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描（RAS）结构相结合实现了并行的折叠控制。与传统的混合测试模式相比,克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明,该方案能够有效降低测试功耗和测试时间。     

基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案

大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大,测试时间长等问题。对此,本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案。该方案利用RAS（Random access scan）结构控制经输入精简的扫描单元,先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障,然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量。本方案生成的折叠集故障检测率高,所需控制数据少。实验数据表明与同类方法相比,本方案能有效减少测试数据量和测试时间。