S15测试程序自动产生器的设计

1 前言在测试系统上要开发一个数字电路测试程序,除了要研究、分析电路的功能、性能和进行测试程序的设计外,还需要经过下图所示的几个步骤:     

IC卡自动上料器的设计

目前,随着集成电路技术的迅猛发展,制造集成电路的水平也越来越高,相应地,集成电路的质量也越来越受到重视,集成电路的测试成了不可缺少的一个重要环节。我国现有大量的测试设备,但是,绝大部分测试设备没有配备上料器,究其原因主要是价格太高,一般需要几万到几十万美元。本项目旨在立足国内购买水平,研制一种低成本的自动上料器。     

CAD与CAT“连接”的试验

1 引言近年来,国际上微电子技术飞速发展,应用愈来愈广泛的专用电路(ASIC)在较短的时间内便可设计与制造出来。但是,往往由于不能快速完成测试而延长了生产周期,影响了参与市场竞争的能力。因此,在电子设计自动化(EDA)技术日趋完善的同时,发达国家正致力于测试问题的解决。除了研究采用边界扫描(Scan)技术,内建自测试(Built In Test)技术增加电路的可测性,采用自动测试图形生成技术(ATPG)加速超大规模集成电路功能测试码的