非晶态As_2S_3膜的结构弛豫

本文研究了非晶态As_2S_3 膜在其T_g 点以下光学厚度(nd)的时间依从性与温度依从性,以及热历史对As_2S_3 膜的折射率、折射率的光致变化特性的影响。实验结果表明:新制备的As_2S_3 膜在其T_g点至室温间的温度范围内发生着显著的结构弛豫。由于这种结构弛豫,使As_2S_3 膜的折射率、折射率的光致变化特性强烈地依赖于其热历史。经过不同程度的热处理后,膜的折射率增加,折射率的光致变化减少,但并未显著改变光化反应的速度常数。     

非晶态As-S系薄膜光学性质的光致变化

本文研究了不同组成As-S系薄膜在Ar~ 激光光照下光学性质的变化过程。实验结果表明,As_2S_3。膜具有最大的光学性质光致变化,且显现出是体效应,并讨论了它的结构变化动力学。本文还研究了新鲜As_2S_3膜在退火-照光循环中折射率的变化行为,可逆的折射率变化约为0.03,不可逆的折射率变化约为0.1。     

非晶态As_2S_3膜光致光学性质的变化及全息参数的研究

研究了非晶态As_2S_3膜(以下均简称 As_2S_3膜)在Ar~ 激光作用下透过率 T、折射率n的变化以及各种全息参数。为了探索材料在全息缩微存储系统中应用的可能性,对录有全息图的 As_2S_3膜进行了温度和湿度以及读出寿命、存放寿命等试验。