硬件产品工艺设计缺陷因素分析

为了减少产品在工艺设计过程中因影响因素众多且因素之间互相影响难以很好地控制等问题而导致的工艺缺陷,基于过程方法分析了影响工艺缺陷各个设计活动阶段的影响因素,且建立了产品工艺设计缺陷因素结构关系模型。在此基础上,利用DEMATEL法对工艺缺陷活动的影响因素之间定量化分析,得出各因素的影响大小和因素之间的因果关系,以此来针对性的控制工艺设计过程中的相关影响因素。研究成果对企业预防和控制硬件产品工艺缺陷起到重要指导意义。     

基于灰色聚类评估的硬件产品设计缺陷分类研究

硬件产品是使用最为广泛的一类产品,其设计缺陷的表现形式多样,对产品安全和功能的影响方式和程度各不相同.从预防和控制设计缺陷的角度,给出了反映设计开发活动时序和功能任务关系的硬件产品设计开发过程的综合模型,以此为基础对硬件产品的设计缺陷进行了定性和定量分类研究,提出了一种基于灰色聚类评估的设计缺陷定量分类方法.该分类方法综合考虑了设计开发过程和缺陷的特征属性,利用灰色聚类评价和层析分析法实现了设计缺陷分类的定量化.最后以国内近两年来召回汽车的部分设计缺陷分类为例,验证了该分类方法的可行性和有效性.     

基于信息公理的FMEA风险评估改进方法

针对传统失效模式影响分析（FMEA）风险优先数（RPN）计算方法存在的误差大、精度低等缺陷,提出了一种基于信息公理的FMEA风险评估分析方法。在传统FMEA风险因子专家评分的基础上,综合考虑了专家意见和风险因子的权重,通过信息公理将不同物理含义的风险因子转化为无量纲的信息量;以此为基础,将风险因子信息量加权求和得到失效模式的信息量,根据失效模式信息量的大小确定失效模式的风险顺序。算例结果验证了方法的有效性和可行性。     

基于设计活动分析的机械产品设计缺陷形成及评估建模

为了从设计缺陷形成机理的角度系统地研究设计缺陷的产生,及其随设计活动的发展过程,以机械产品设计过程的设计活动分析为基础,通过分析产品设计活动类型和设计活动时序关联模型,研究了设计缺陷的形成和发展,并构建了以设计活动为贝叶斯网络节点的设计缺陷评估模型。案例研究表明:通过该方法可以定量估算设计活动产生产品设计缺陷的可能性,识别设计缺陷发生概率高的关键设计活动,从而为产品设计缺陷的预防控制提供依据。     

基于logistic回归的设计缺陷影响因素的关系网模型

为了在产品设计开发过程中能有效地预防和控制设计缺陷,对设计缺陷因素进行了总结并根据设计缺陷因素的属性和对设计缺陷影响性质和方式的差异对其进行了分类;根据硬件产品设计开发过程,定性地分析了设计缺陷因素对设计过程的影响.以此为基础,构建了硬件产品设计缺陷因素与设计缺陷类型的关系网模型;运用logistic回归理论,建立了硬件产品设计缺陷因素的回归分析模型,实现了设计缺陷因素对设计缺陷影响的定量化分析.研究成果也为进一步深入研究设计缺陷的形成机理做了有益的尝试.     

基于蚁群神经网络的LED灯管寿命预测

针对高可靠性、长寿命复杂产品的可靠性评估过程,在加速寿命退化试验数据的基础上,提出了一种基于试验数据驱动的自适应智能方法,并对某型LED灯管的寿命与可靠性进行预测分析.首先,通过指数模型拟合性能退化曲线,推算出各组应力条件下的伪失效寿命值;再将蚁群算法结合BP神经网络等智能算法应用于寿命预测模型的建立,根据试验证明寿命服从对数正态分布,且检验寿命必须满足置信度区间范围内;最后,预测出正常应力条件下LED灯管的工作寿命.结果表明,基于蚁群神经网络预测LED灯管寿命的方法,预测误差较小,收敛速度快,能够满足工程要求.     

基于贝叶斯网络的硬件产品设计缺陷评估

为了预测硬件产品设计研发过程中的设计缺陷,提出利用贝叶斯网络构建产品设计缺陷评估模型。通过故障树建立评估模型的贝叶斯网络结构,利用证据推理方法确定评估模型的概率。研究案例表明,该方法可分析缺陷因素对设计缺陷的影响关系,实现对产品设计缺陷的定量预测,研究结果与实际情况对比具有较好的符合性。