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多值逻辑与电子科学技术(综述) 总被引:1,自引:0,他引:1
讨论了研究多值逻辑对发展电子科学技术的意义。从多值逻辑电路与多值数字系统逻辑设计以及多值逻辑应用诸方面综述了这个领域的发展概况与趋势。 相似文献
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本文提出一种在VLSI LSSD可测试性设计中采用特殊的三值时钟信号取代二值时钟信号的新方案。一方面电路保持了LSSD方法提高电路可测试性的优点。另一方面由于采用了三位逻辑技术,原来LSSD方法中所需要的一根模式选择信号线可以省去。鉴于在原LSSD方法中这根信号线需要连接至电路中的每一个触发器,因此它的省去对降低VLSI电路的连接复杂性及节省基片面积是极有意义的。文中详述了新方案的工作原理并给出了用CMOS电路实现该方案的电路设计,并将三值方案与传统的二值方案及带译码器的二值方案进行了比较。 相似文献
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逻辑值冗余是指用n值逻辑电路构成m值逻辑系统,其中n>m。此时有(n-m)个逻辑值是冗余的;但它们可以被用来产生自校验、纠错等功能,以提高系统的可测试性及可靠性。本文提出逻辑值冗余的一种实现方案——三中取二值自校验逻辑系统。这种系统是逻辑值冗余在n=3,m=2时的特例。本文内容包括三中取二值逻辑算子及自校验定义、三中取二值组合系统及三中取二值同步时序系统等。 相似文献
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本文应用多值开关级代数为MOS电路中的电容建立模型,并提出了应用多值开关级代数分析MOS动态电路、时延及电荷共享的方法。 相似文献
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低功耗CMOS“二值工作三值检测”门电路 总被引:1,自引:0,他引:1
1.引言 多值逻辑电路应用于二值逻辑系统以构成自校验系统或简化故障检测是多值逻辑应用的一个方面。文献[1]提出一种方案:用CMOS技术实现一种新型的三值门电路,再用这种门电路构成自校验的二值逻辑系统。这个方案的基本原理是用三值门电路的二个逻辑值作为二值系统的正常工作值,而多余的一个逻辑值作为故障的测试及自校 相似文献
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二值工作三值检测(B/T)自校验同步时序系统 总被引:1,自引:0,他引:1
二值工作三值检测(简称为B/T)自校验系统是一种特殊的三值逻辑系统。正常时,系统工作于二值状态,因此可与一般的二值系统兼容。其第三个逻辑值(中间逻辑值)用作故障指示信号,或在脱机测试时应用。文[1]研究了B/T自校验组合系统。本文将该研究扩展至时序系统,先逐步给出了B/T R-S、D、J-K等触发器的构成方案,分析了它们的故障特性。在此基础上得出了B/T自校验同步时序系统的一般结论。 相似文献
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IEEE第十三届国际多值逻辑学术会议于一九八三年五月二十三日至五月二十五日在日本京都召开。与会各国学者八十余人。共发表论文54篇,另外还有4个专题报告。论文中包括以下方面内容:(1)逻辑设计9篇;(2)逻辑学(哲学)7篇;(3)电路技术 相似文献