首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   5篇
  免费   1篇
  国内免费   2篇
无线电   6篇
一般工业技术   1篇
自动化技术   1篇
  2010年   2篇
  2009年   6篇
排序方式: 共有8条查询结果,搜索用时 31 毫秒
1
1.
地铁在给人们带来便利的同时,也带来了严重的杂散电流腐蚀危险.为了给当前的防腐工作提供有效的指导,本文对杂散电流分布的数学模型进行了深入研究.从杂散电流的产生机理着手,采用微元法建立了杂散电流分布的数学模型,分析了轨地过渡电阻率及土壤电阻率对杂散电流分布的影响,得出走行轨电阻的增加、轨地过渡电阻率及土壤电阻率的减小是产生杂散电流的主要原因.  相似文献   
2.
为了研究含有负折射率材料的光子晶体掺杂缺陷模的光学传输特性,利用传输矩阵理论进行数值分析.采用插入和替代两种方式对排列整齐的光子晶体进行掺杂,产生了缺陷模式.结果表明,引入正折射率缺陷只能在布喇格带隙中产生缺陷模,引入负折射缺陷能够同时在全方位光子带隙和布喇格带隙中产生缺陷模.同时研究了掺杂方式、入射方向、缺陷厚度、缺陷位置、缺陷类型对缺陷模式的影响,并对含有两层缺陷的光子晶体进行研究,得到两缺陷层的距离与带隙产生的关系,即距离越近越容易产生缺陷模式,且缺陷模的深度越深.这对于制造新型的全方位滤波器是有指导作用的.  相似文献   
3.
苑秋红  谢康  韩艳芬 《红外》2009,30(5):14-18
在传统的二元一维光子晶体中,如果有一种材料在某一段频带范围内显示出负折射率特点,此光子晶体的色散特性肯定不同于传统的光子晶体.首先通过建立简单的模型推导出光波在光子晶体中传播的表达式,然后进行数值模拟和分析,并引入负折射率表达式,仿真得到这种光子晶体的色散图形.研究结果表明,该光子晶体在微波频段存在多个小的禁带,可以作为多通道滤波器.在高频带,当构成光子晶体的两种材料的厚度发生改变时,禁带的位置也会变化.  相似文献   
4.
含Kerr介质一维光子晶体传播特性的一种新算法   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了含有Kerr非线性介质的一维光子晶体的传播特性,在处理非线性层部分时,创立了一种新的算法,此方法可以方便而精确地模拟含Kerr介质的光子晶体的传输行为.并得出了与子层逆向递推传输矩阵相一致的结果,与之相比,同时具有简单、快速、易懂的特点.  相似文献   
5.
光纤耦合器与速度干涉仪的灵敏度   总被引:1,自引:0,他引:1  
刘正华  姜海明  肖峻  苑秋红 《红外》2009,30(6):11-14
通过改进光纤定向耦合器的结构,可以显著提高光纤速度干涉仪的灵敏度.该文从熔融拉锥型光纤定向耦合器的数学模型出发进行研究,详细分析了2×2和3×3型光纤定向耦合器在全光纤速度干涉仪(AFVISAR)中的具体作用,并对此两种结构的光纤速度干涉仪的性能(主要是灵敏度)的优劣进行了对比分析,表现出3×3型光纤定向耦合器构成的两端探测系统的优越性.最后提出采用N×N型光纤定向耦合器可能带来的光纤速度干涉仪性能的提高和适用局限性.  相似文献   
6.
研究了含有kerr非线性介质的一维光子晶体的传播特性,在处理非线性层部分时,创立了一种新的算法,此方法可以方便而精确地模拟含kerr介质的光子晶体的传输行为。并得出了与子层逆向递推传输矩阵相一致的结果,与之相比,同时具有简单、快速、易懂的特点。  相似文献   
7.
一种二次Bootloader升级和回退的设计与实现   总被引:2,自引:2,他引:0  
为了满足版本的正确稳定升级,满足系统高可靠性的要求,要求在系统存储多个二次Bcotloader引导程序并能实现Bootloader版本的在线升级.介绍了一种支持二次Bootloader在线升级和回退的原理和实现方式,支持从两个二次Bootloader版本中选择最新版本实现Bootloader升级以及升级不成功的版本回退.这种设计通过软硬件密切配合完成单板的启动过程,硬件结构更简单,成本更低廉.在支持Bootloader在线升级的同时还支持升级失败的回退机制,提高了系统升级的稳定性和可靠性.现在这种设计已经成功运用于通信产品中.  相似文献   
8.
苑秋红 《激光技术》2010,34(2):232-235
为了研究含有负折射率材料的光子晶体掺杂缺陷模的光学传输特性,利用传输矩阵理论进行数值分析。采用插入和替代两种方式对排列整齐的光子晶体进行掺杂,产生了缺陷模式。结果表明,引入正折射率缺陷只能在布喇格带隙中产生缺陷模,引入负折射缺陷能够同时在全方位光子带隙和布喇格带隙中产生缺陷模。同时研究了掺杂方式、入射方向、缺陷厚度、缺陷位置、缺陷类型对缺陷模式的影响,并对含有两层缺陷的光子晶体进行研究,得到两缺陷层的距离与带隙产生的关系,即距离越近越容易产生缺陷模式,且缺陷模的深度越深。这对于制造新型的全方位滤波器是有指导作用的。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号