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采用冲突驱动回溯、两观察变量法等思想,静态分析和动态更新相结合的排序决策,鼓励冲突,尽早剪除不满足解空间,提高算法速度.根据变量正反文字出现次数的乘积进行初始排序,优先考虑正反文字出现次数较多变量的赋值;采用冲突驱动、动态更新变量顺序、优先考虑发生冲突子句中变量的赋值,尽可能避免当前冲突.实验结果表明:与采用其他决策策略的解决器相比,文中的解决器拥有一定的速度优势. 相似文献
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在集成电路制造中,光刻工艺(尤其是工艺引入的缺陷)直接影响生产的成品率.光刻工艺涉及的缺陷形状多种多样,提取缺陷并将之分类对于提高电路制造成品率是重要的.由于缺陷的骨架是描述缺陷形状及识别缺陷的重要特征,故提出一种集成电路真实缺陷骨架的提取方法,通过定义LS空间的特征值聚类分割集成电路彩色图像,使用小波分解分割集成电路灰度图像,然后基于数学形态学方法滤除分割图像的噪音并提取出缺陷的骨架.实验结果表明该方法使集成电路真实缺陷形状描述简单,从而为缺陷检测与分类提供了准确的依据. 相似文献
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超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题.尽管重心游移算法提出得较早,由于其固有的优点目前仍被研究和推广.文中从一个新的角度,即几何学原理上探讨了最优的重心游移算法的原理,使最优方向的几何图像更加明确. 相似文献
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VLSI的参数成品率是与制造成本和电路特性紧密相关的一个重要因素,随着集成电路(IC)进入超深亚微米发展阶段,芯片工作速度不断增加,集成度和复杂度提高,而工艺容差减小的速度跟不上这种变化,因此参数成品率的研究越来越重要.本文系统地讨论了参数成品率的模型和设计技术研究进展,分析不同技术的特点和局限性.最后提出了超深亚微米(VDSM)阶段参数成品率设计和成品率增强面临的主要问题及发展方向. 相似文献
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基于产品最优分档的集成电路整体效益优化模型 总被引:1,自引:0,他引:1
构造了一个电路综合性能指标函数,据此函数构造了连续可导的价格函数,并对电路产品进行了分档,根据电路性能指标,市场的供求和其他实际情况给每档电路产品定价,然后提出了一种新型的整体效益优化模型,与现有模型相比,该模型同时把分档的参数和中心设计值作为优化设计变量,因而更具有普遍性和优越性。 相似文献