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在Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)衬底上,用脉冲激光沉积工艺分别制备出了(110)外延取向生长的(Ba0.65Sr0.35)TiO3/CaRuO3(BST/CRO)异质结构薄膜;BST/CRO异质结构薄膜由纳米晶团簇组成,最大的团簇晶粒达500 nm,平均晶粒尺寸在60~80 nm,薄膜厚度为650 nm.BST/CRO异质结薄膜均为表面平滑和致密结构.BST/CRO异质结薄膜的介电常数和介电调谐率分别高达851和78.1%.与纯BST薄膜比较,用CRO作电极,增益介电常数与介电调谐率. 相似文献
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文章简述了在扩招和大实验平台的新形势下大学物理实验所面临的资源、师资和管理等问题;探讨了多媒体预习、仿真和虚拟远程实验辅助及实验主持入负责等相应的对策。 相似文献
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用时域方法在低频范围研究了涤纶、聚丙烯、线性低密度聚乙烯、绝缘纸等聚合物材料的介电谱,结果发现随着温度的升高,聚合物的慢极化出现多弛豫机构,而且介电响应函数有别于传统的经验公式。慢极化弛豫机构来源于空间电荷和缺陷的扩散,宏观表现为吸收电流,用时域微分谱可解释这一结果 相似文献
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在Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)衬底上,用脉冲激光沉积工艺制备出了高度a轴取向生长的(Ba0.65Sr0.35)TiO3(BsT)薄膜。薄膜为柱状生长的纳米晶粒,平均晶粒尺寸为50nm。在外加电场254kV/cm时,BST薄膜的相对介电常数与介电调谐率为810和76.3%。高的介电调谐率主要是BST薄膜具有高度a轴取向的柱状生长晶粒,因为来自沿平面c轴极化而产生的内部应力,在电场作用下,获得了高介电调谐率。 相似文献
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用溶胶-凝胶法在石英玻璃基片上成功地制备了PbZrO3(PZ)薄膜.X射线衍射分析结果表明晶化好的PZ薄膜,是多晶钙钛矿结构.750℃晶化的薄膜,晶粒尺寸为30~50nm.用紫外-可见光分光光度计在波长200~900nm范围内,测量了不同温度退火的PZ薄膜的透射率,结果表明450、600、750℃退火的薄膜样品,其光学吸收边分别为4.11、4.56、4.59eV. 相似文献
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本设计是基于图形化编程语言LabVIEW,配合计算机和通讯电路所组成的一个虚拟测试仪器,用于测量和显示光耦器件的输出特性和电流传输比等参数。 相似文献
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高度(100)取向的BST薄膜及其高介电调谐率 总被引:2,自引:0,他引:2
用脉冲激光沉积法制备(Ba1-xSrx)TiO3(x=0.35,0.50简称BST35和BST50)介电薄膜。在650℃原位退火10min,获得高度(100)取向柱状生长的晶粒。BST35薄膜的平均晶粒尺寸为50nm,BST50薄膜的晶粒尺寸为150~200nm。在室温和1MHz条件下,BST35的最大εr和调谐率分别达到810和76%,其介电调谐率高于国内外同类文献报道的数据;BST50的εr和调谐率最大分别达到875和63%。薄膜为(100)取向生长,因为薄膜沿平面c轴极化而产生应力,在电场作用下,而获得高介电调谐率。 相似文献
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溶胶凝胶法制备(Pb,La)TiO3纳米晶 总被引:1,自引:0,他引:1
采用溶胶-凝胶法制备掺镧钛酸铅(PLT)纳米晶,分别用X射线衍射仪、透射电子显微镜、红外光谱仪和差热扫描量热分析仪对其晶化温度、结构、形貌特性进行了分析测试.结果表明PLT系列纳米晶的晶化温度为500℃,650℃热处理2h得到的纳米晶粉的粒度大小为30nm左右. 相似文献