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用土壤含水层处理系统去除水库微污染有机物的试验研究 总被引:10,自引:2,他引:8
本文针对当前中国饮用水源污染以微污染为主的特点,以北京三家店水库原水和永定河河道砂为研究对象,设计了用于表征土壤含水层处理系统的一维土柱,进行污水净化效果的试验研究。结果表明,土壤含水层处理系统对三家店水库微污染水中的有机物有一定的去除效果,在0.12m/d的水力负荷条件下,对CODMo去除率虽然仅为15%,但是出水达到了地表水Ⅱ类水质标准;对BOD5的去除率达到了55%,可以被有效地去除。渗透速率相同时,水力负荷周期对去除效果的影响不明显,但在保证一定水力负荷的情况下,可适当延长落干期,恢复土壤的渗透能力,达到较好的处理效果。同时,土壤含水层处理系统的净化能力主要发生在土层50cm以内。 相似文献
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电子元器件在应用过程中经常出现污染腐蚀失效,查找引起失效的污染、腐蚀源是分析技术的关键。本工作通过几种不同类别电子产品失效分析案例,研究了离子色谱检测(IC)在板面残留、工艺辅料、产品包封料、环境异物中污染腐蚀源的检验和分析方法,并与传统的形貌观察、绝缘阻抗测试、EDS成分分析、红外光谱分析的结果进行综合对比和验证。明确了离子色谱检验方法在电子元器件腐蚀失效分析中的应用场景、取样方法和结果分析方法,为离子色谱在电子元器件腐蚀失效预防中的工程应用提供指导和借鉴。 相似文献
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漏电流增大是集成电路的主要失效表现,通过光发射显微镜(PEM)和光束感生电阻变化(OBIRCH)技术互补地结合使用,对集成电路中常见的PN结漏电、介质层绝缘性降低、间接漏电流失效和芯片的背面分析案例进行研究,分析由过电应力、金属化桥连、静电放电损伤导致漏电的定位特性。得出以下结论:根据光发射显微镜得到的缺陷形貌和位置可以断定是否为原始失效或间接失效,结合电路分析进而可以解释发光的原因;OBIRCH对原始缺陷的定位更为准确,多层结构的背面OBIRCH分析更有优势。 相似文献
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A novel wet etching method for AlGaN/GaN heterojunction structures is proposed using thermal oxidation f ollowed by wet etching in KOH solution.It is found that an AlGaN/GaN heterostructure after high temperature oxidation above 700℃could be etched off in a homothermal(70℃) KOH solution while the KOH solution had no etching effects on the region of the AlGaN/GaN heterostructure protected by a SiO2 layer during the oxidation process.A groove structure with 150 nm step depth on an AlGaN/GaN heterostructure was formed after 8 h thermal oxidation at 900℃followed by 30 min treatment in 70℃KOH solution.As the oxidation time increases,the etching depth approaches saturation and the roughness of the etched surface becomes much better.The physical mechanism of this phenomenon is also discussed. 相似文献
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1采用水生态指标监测评价水生态环境是发展趋势 水生态指标是指以水生生物来指示水体污染程度的水体质量评价指标体系.在德国,水生态指标主要包括4大类型:第一,巨型水生植物,如水草等,肉眼可以直接观察、分类;第二,浮游水生植物,如各种藻类,常用显微镜进行分类、计数;第三,浮游水生动物,如原生动物、多细胞动物,也需用显微镜分析;第四,水生底栖无脊椎动物,如蜻蜓幼虫、摇蚊幼虫等,可以用肉眼分清,一般也需要实验室分析. 相似文献
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首先,对传统的物料管控方法进行了总结和分析;然后,提出一种基于质量规格书的物料管控方法;最后,给出了该方法中质量规格书的具体内容.该方法既保障了元器件的固有可靠性,又可以免去使用单位的来料检测实验,是一种简便、 有效的物料管控方法. 相似文献
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