塑封电子器件负极端变色原因分析

利用X—RAY光电子能谱仪对125°下,通电15kV,96h后负极一端出现白色物质的塑封电容器进行分析。对比分析性氧化铝结发现,负极一端白色物质为氧化铝富集所致。造成该现象的原因是,环氧塑封料中含有活性氧化铝,由于固化不完全或吸潮导致环氧塑封料中残留水分,残留的水分与活合,在电应力的作用下,有向电源负极迁移的趋势;同时,由于温度效应的存在,塑封树脂软化,加速了水分与活性氧化铝向电源负极迁移的速度,形成了氧化铝在负极端富聚现象,使电容器负极端呈现白色。     

芯片引线键合点失效的俄歇电子能谱分析

采用俄歇电子能谱法（A ES ）,对某芯片的正常引线键合点和失效引线键合点进行了分析。实验结果表明：失效引线键合点表面出现了Cl元素,其失效原因是在键合点处形成的氯化物腐蚀键合点,导致键合点失效;溅射20 min后,键合点内发生Ni金属的迁移,这也是导致键合点失效的原因之一。     

GC-MS法则定水溶性树脂漆中的甲醛含量

本文建立水溶性树脂漆中甲醛含量的衍生气相色谱-质谱联用技术测量方法.方法的检出限小于5μg/L,回收率为90%～110%,相对标准偏差小于5%.     

等离子体条件下煤基富勒烯的制备及生成机理

以淄博贫煤为原料,用射频等离子体法合成碳纳米管（carbon nanotubes,CNTs）和纳米洋葱状富勒烯（nano—structured onion—like fullerenes,NSOFs）,运用场发射扫描电子显微镜（FE—SEM）和高分辨透射电子显微镜（HRTEM）对产物进行了表征和分析．结果表明：以淄博贫煤为原料制备出CNTs和NSOFs,CNTs直径分布均匀,约为10nm左右,准球状的NSOFs直径分布在8nm-30nm之间,石墨化程度较高;并对不同变质程度的煤制备富勒烯的生成机理进行了比较与讨论．     

一种新颖结构的煤基定向碳薄膜的制备与表征

以宏源精选煤为原料在微波等离子体条件下制备出一种新颖结构的碳材料,运用场发射扫描电子显微镜、透射电子显微镜和能量色散谱技术对产物进行表征.结果表明：产物形状似莴笋状,外层石墨化程度较好,其最大宽度约为170 nm,长度则为4～5 μm,且呈定向排列.这种新颖结构的纳米碳材料有望在场发射、增强材料等方面显示出巨大的应用潜力.     

GC-MS法测定水溶性树脂漆中的甲醛含量

本文建立水溶性树脂漆中甲醛含量的衍生气相色谱-质谱联用技术测量方法。方法的检出限小于5μg/L,回收率为90%~110%,相对标准偏差小于5%。     

DAST晶体XPS数据分析基准的讨论

为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准。结果表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50 eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的。     

磷酸铁锂粒度测试中分散条件的探索

粒度的准确测定关系到磷酸铁锂性能的表征。本文分别研究了干法和湿法以及湿法测量中试样浓度、搅拌速度以及分散剂的加入对磷酸铁锂粒度测定结果的影响。结果表明,干法测量的结果偏大;湿法测量中试样的浓度对粒度的影响不明显;搅拌速度大有利于粒度的准确测定;加入分散剂六偏磷酸钠后,测试结果重现性好。     

电子产品中多溴苯系物的质谱识别分析

研究了气相色谱-质谱-定性离子扫描(GC-MS-SIS)法对电子电气产品中多溴联苯(PBBs)和多溴联苯醚(PBDEs)的质谱识别,重点探讨了定性离子强度比的匹配度对定性结果的影响.通过12种标准品和电子产品的PBBs和PBDEs定性分析表明:在定性离子数量较少的情况下,被测物的定性离子强度与该标准物定性离子间强度比的匹配度要符合一定的公允范围,定性结果准确可靠.     

钨带冷弯时断裂原因分析

钨带在90°弯曲时发生断裂,通过分析发现,断裂钨带碳含量偏高,断口处分层并呈蜂窝式片状形貌,断口附近金相组织也显示出明显的带状组织,断口处组织呈纤维状,断口为脆性断口。建议将材料含量控制在0.0050%以下,在90°弯曲时加热,加热温度在650～800℃,以降低钨带的脆性,增加弯曲时的韧性,提高成品率。