纳米粒子粒径评估及测试方法的比较

本文介绍了透射电镜综合分析—分散法测定纳米粒子粒径的方法,并将此法与X射线小角散射法及透射电镜暗场法测粒径进行了实验与分析的比较。认为采用X射线小角散射法与透射电镜综合分析—分散法相结合测定评估纳米粒子粒径可以以较快的速度得到准确的结果、综合的信息。     

一些低维材料的微观结构(一)——超细羰基铁粉和SiCB激光制粉

利用电子能量损失谱、微衍射及高分辨电子显微术等方法观察和分析了直径为5—30nm的超细羰基铁粉和直径为30—80nm 的 SiCB 超细粉。超细铁粉主要由中心核α-Fe 和外壳 Fe_3O_4组成,其中部分超细粉完全被氧化,形成空心的γ-Fe_2O_3。激光制得的 SiCB 超细粉由 Si,SiC,SiB_6多相复合微粒组成,并有大量孪晶形成。     

Bi—Sr—Ca—Cu—O系超导材料结构分析

Bi-Sr-Ca-Cu-O系是最近发展起来的一种高温超导材料系。由于它的原材料中不含稀土,有较高的超导转变温度和零电阻温度以及稳定的超导性,引起了人们的关注和重视。本工作利用SAED。CBED、HREM和x—射线衍射确定其中相的结构。主相之一(以下称E相)的点阵常数为:a_0=0.385nm,b_0=0.382nm,c_0=0.30±0.03nm,属正交晶系,沿[110]轴有无公度调制。对多块试样的电子衍射发现,调制花样较多样,不单一,偶尔也发现二维(沿二个<110>方向)的调制。主相之二(以下称S相)晶体结构亦属正交系,点阵常数a_0、b_0与E相相同。c_0=1.2±0.1nm。但在<110>方向没有调制,在b方向有长周期(在c方向是否有尚不清楚。)。对上述相作成份分析指出:E相(指一维调制的)高     

THE MICROSTRUCTURE OF SOME LOW DIMENSIONAL MATERIALS(1)——Ultrafine Carbonyl Iron Powders and Laser-made SiCB Powders

利用电子能量损失谱、微衍射及高分辨电子显微术等方法观察和分析了直径为5—30nm的超细羰基铁粉和直径为30—80nm 的SiCB 超细粉。超细铁粉主要由中心核α-Fe 和外壳Fe_3O_4组成,其中部分超细粉完全被氧化,形成空心的γ-Fe_2O_3。激光制得的SiCB 超细粉由Si,SiC,SiB_6多相复合微粒组成,并有大量孪晶形成。