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对溅射沉积制成的氧化锡薄膜进行了钨离子注入、氧离子注入和退火处理,并用X射线衍射(XRD)和x射线光电子能谱(XPS)分析了薄膜,研究了注入对薄膜相变的影响。发现在室温下溅射沉积形成的非晶态SnO2薄膜,注入氧离子后导致了非晶态SnO2向晶态SnO2的转变;注入钨离子则导致了SnO在非晶态薄膜中的形成。而在已经注入了钨离子的薄膜中再注入氧离子可以形成Sn3O4。实验表明,注入钨离子可减少由氧和锡组成相的氧、锡比率,而注入氧离子则可增加这种比率。  相似文献   
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