旋光测量系统的新设计

为了提高测量精度,设计了一种利用偏振光干涉法测量物质旋光率的新系统,并对石英晶体旋光性质进行了测定,测量结果的相对误差小于1%,实验证明其测试精度和使用效果都比传统方法有了明显的提高。     

石英晶体偏光干涉谱紫外区聚敛特性研究

采用连续偏光干涉原理,针对石英晶体样品,获得了石英晶体在300～800 nm间的光强透射比曲线和最大双折射率的色散曲线.通过改变出射缝隙的大小,光强透射比曲线极值的幅度随出射光缝隙的减小而变化并呈现一定的规律.缝隙较大时,在紫外区会出现光强最大、最小值聚敛的现象;缝隙大小只影响极值的幅度,并不影响极值对应的波长值;出射准单色光的波长范围是影响曲线变化的主要因素,材料吸收是次要因素.     

测量云母双折射率的波长调制补偿方法

根据云母折射率的色散关系和相位延迟随波长变化关系,给出了一种测量双折射率比较精确的方法.通过测量云母材料的厚度和相应厚度情况下作为λ/4波片使用所对应的波长,利用相位延迟与波长及厚度函数关系式直接求得云母的双折射率.该方法简便,测量精度达到10-5量级.