大规模集成电路与系统芯片的可测性设计

电路集成度的迅速增加使电路的测试越来越困难且代价昂贵,对此一种有效方法是对电路进行可测性设计.本文结合该方面的发展状况,对大规模集成电路的可测性、边界扫描测试、数模混合电路与专用集成电路的边界扫描测试、系统芯片的可测性设计等进行了讨论.     

太赫兹波的层析成像

太赫兹波由于其独特的性质例如瞬态性、宽带性与相干性等,而具有非常重要的学术价值和应用前景。太赫兹成像技术是太赫兹波研究中的基础和一个重要方面,可广泛应用于无损检测、安全检查、光谱分析与生命科学等领域。本文讨论了基于太赫兹波的层析成像的过程与步骤、层析成像的方式以及相关的图像数据处理方法。