用比较法测量声光介质的声光优值

扼要介绍了用比较法测量声光介质声光优值的基本原理、实验装置和试样制备等，并用这种方法测量了声光介质分别为声光玻璃和ＬｉＮｂＯ３、Ｂｉ１２ＧｅＯ２０、ＰｂＭｏＯ４、ＴｅＯ２单晶的声光优值。实验结果表明，采用这种方法可避开测量声光互作用区声功率的麻烦，简单而又方便地测量出声光介质的声光优值     

用激光干涉技术测量玻璃材料折射率

本文简要介绍用激光干涉技术测量玻璃拆射率参量的基本原理和实验装置；给出了实验曲线、测试结果与误差分析。     

用激光干涉法对溅射ZnO薄膜的厚度进行实时监控

本文介绍了激光干涉法监控薄膜厚度的原理与装置.本方法具有简单、方便、稳定可靠、图形直观等优点.对溅射ZnO薄膜的厚度进行实时监控,当厚度为4微米时,精度可达2%.监控厚度可达几十微米.本方法另一个突出的优点是可在不启开钟罩的条件下.方便地研究溅射成膜的各种工艺参数与膜的沉积速率的关系.     

晶体折射率测试方法

扼要介绍了一种测试晶体折射率的有效方法──激光干涉法．并用这种方法分别测试了ＥＩ１２ＳｉＯ２０、Ｂｉ４Ｇｅ３Ｏ１２、Ｂｉｌ２ＧｅＯ２０、ＬｉＮｂＯ３晶体和熔融石英的折射率．测试结果表明，这种方法具有简便、稳定可靠、测试范围广和精度高等优点．     

用激光干涉法实时监控同轴磁控溅射ZnO薄膜的厚度

本文介绍了一种在我所生产的TCJ-300型同轴磁控溅射设备上采用激光实时监控ZnO薄膜厚度的方法.实验结果表明,该方法与其它膜厚监控方法相比较具有多种优点:它可以在溅射过程中实时显示薄膜的厚度、均匀性和溅射速率等;本实验装置简单;操作方便;其监控精度优于1.5%.     

用激光点光源干涉法测量晶棒两端面间的楔角

本文介绍了一种简便的测量微波延迟线所用晶棒两端面间楔角大小的方法。扼要地概述了测量的基本原理和实验装置,并对测量结果进行了误差分析。实验结果表明:这种测量方法具有结构简单,图形直观,操作方便和不受环境影响的优点。其测量精度优于1.5%。     

用衍射光脉冲回波技术测量声光介质的体波声衰减系数

扼要介绍用衍射光脉冲回波技术测量声光介质体波声衰减系数的基本原理、实验装置和样品制备等，并分别测量了声光介质为石英玻璃、声光玻璃和ＬｉＮｂＯ３，ＰｂＭｏＯ４单晶的体波声衰减系数，给出了实验结果。     

电清洗人造石英晶体技术的研究

该文采用电清洗技术研制出高稳定性,高可靠性,低腐蚀隧道密度的人造石英晶体.通过对电清洗工艺技术的研究,可将腐蚀隧道密度≤100条/cm2、Na+质量分数为2.33×10-6的石英晶体腐蚀隧道密度降低到≤10条/cm2,Na+质量分数减少到0.3×10-6.采用电清洗石英晶体技术研制出了腐蚀隧道密度≤3条/cm2,抗辐射性能提高2个数量级.